[發(fā)明專利]含氘電極真空弧離子源瞬態(tài)氘分子氣壓的測(cè)量方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610984993.X | 申請(qǐng)日： | 2016-11-09 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106353259B | 公開（公告）日： | 2023-08-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 董攀;龍繼東;李杰;藍(lán)朝暉;鄭樂;楊振;王韜;李喜;陳德彪;劉飛翔;李晨;陳偉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)工程物理研究院流體物理研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/25 | 分類號(hào)： | G01N21/25;G01F1/76 |
| 代理公司： | 成都行之專利代理有限公司 51220 | 代理人： | 郭受剛 |
| 地址： | 621000*** | 國(guó)省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電極 真空 離子源 瞬態(tài) 分子 氣壓 測(cè)量方法 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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