[發明專利]一種測試CCD光電參量的系統在審
| 申請號： | 201610984154.8 | 申請日： | 2016-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN106443403A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 喬鬧生 | 申請（專利權）人： | 湖南文理學院 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 常德市長城專利事務所(普通合伙)43204 | 代理人： | 蔡大盛 |
| 地址： | 415000 湖南省*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 ccd 光電 參量 系統 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于湖南文理學院，未經湖南文理學院許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610984154.8/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：LED批量抗靜電測試基座
- 下一篇：電子電路監測系統及電子電路監測方法
