[發明專利]一種頻譜分析儀的數據處理方法和裝置

有效

• 申請號: 201610983512.3
• 申請日: 2016-11-09
• 公開（公告）號: CN106597098B
• 公開（公告）日: 2019-11-12
• 發明（設計）人: 周嘉星;羅勇;蘇暢
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎陽科技有限公司
• 主分類號: G01R23/16
• 分類號: G01R23/16
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 郭燕

本申請公開了一種頻譜分析儀的數據處理裝置，包括獲取模塊、擬合模塊、數據轉換器、處理器和失真校準模塊，利用獲取模塊獲取到被測信號的線性點頻率和線性點幅值，通過數據轉換器將線性點頻率轉換為對數點頻率，同時利用擬合模塊通過數據擬合得到擬合函數，再利用處理器根據擬合函數和對數點頻率計算出對數點幅值，得到生成對數波形需要的數據，進一步，通過利用失真校準模塊消除因頻率轉換出現的數據失真現象，使得在頻譜分析儀的顯示屏上準確、方便地顯示被測信號在對數頻率下的波形形狀，該裝置占用FPGA資源較少，成本較低，實施較為容易。相應地，本申請還公開了一種頻譜分析儀的數據處理方法。

技術領域

本申請涉及電子儀器領域，尤其是一種頻譜分析儀的數據處理方法和裝置。

背景技術

在現代測試測量領域，工程師在使用電子測量儀器時，在某些場景下不僅希望能夠看到被測信號在線性頻率下的形狀，還希望看見在對數頻率下的形狀。頻譜分析儀為一適當而必備的量測儀器，頻譜分析儀的主要功能是測量信號的頻率響應，橫軸代表頻率，縱軸代表被測信號功率或電壓的數值，可用來顯示量測的結果。為了直接觀察到對數波形，傳統的方法采用硬件方法實現,利用對數方式掃描，從而得到對數波形數據，這樣的方案比較復雜、成本比較高，而且占用的FPGA資源較多、實施代價太大、成本較高。

發明內容

本申請提供一種頻譜分析儀的數據處理方法和裝置，將線對數波形數據直接顯示在頻譜分析儀屏幕上，并解決線性數據轉換成對數數據失真的問題。

根據本申請的第一方面，本申請提供一種頻譜分析儀的數據處理方法，包括：

獲取步驟，獲取線性點數據，所述線性點數據包括線性點頻率和線性點幅值；

轉換步驟，將所述線性點頻率轉換為對應的對數點頻率；

擬合步驟，將所述線性點數據進行擬合，得到擬合函數；

計算步驟，根據所述擬合函數和對數點頻率，計算對數點的幅值，得到所有對數點數據，所述對數點數據包括對數點頻率和對數點幅值。

在一些實施例中，在所述計算步驟之后，還包括判斷步驟：當多個線性點對應同一個對數點時，根據頻譜分析儀檢波方式，從所述多個線性點中，挑選出與所述對數點最接近的線性點的幅值作為所述對數點的幅值。

在一些實施例中，其特征在于，所述頻譜分析儀檢波方式是指頻譜分析儀的功能，包括峰值檢波和平均值檢波。

在一些實施例中，在所述計算步驟之后，還包括判斷步驟：當多個對數點對應同一個線性點時，將所述線性點的幅值作為與所述線性點最接近的對數點的幅值，其余的對數點根據擬合函數計算得出對數點的幅值。

在一些實施例中，在所述計算步驟之后，還包括失真處理步驟，包括：

遍歷所有對數點，對于每一個對數點，找出左右相鄰的對數點，即前對數點和后對數點，

在所述線性點頻率中，找到大于所述前對數點頻率的最小線性頻率點和小于所述后對數點頻率的最大線性頻率點；

在所述線性點幅值中，找出所述最小線性點頻率與最大線性點頻率范圍內最大線性點幅值；

比較對數點的幅值與所述最大線性點幅值，若所述對數點的幅值小于所述最大線性點幅值，所述對數點的幅值不變，若所述對數點的幅值大于所述最大線性點幅值，用所述最大線性點幅值作為所述對數點的幅值。

根據本申請的第二方面，本申請提供一種頻譜分析儀的數據處理裝置，包括：

獲取模塊，與所述數據處理裝置的輸入端相連接，用于獲取線性點數據，所述線性點數據包括線性點頻率和線性點幅值；

數據轉換器，用于將所述線性點頻率轉換為對應的對數點頻率；