[發明專利]基于序列切片的顯微鏡圖像采集方法有效
| 申請號： | 201610978135.4 | 申請日： | 2016-11-07 |
| 公開（公告）號： | CN106570484B | 公開（公告）日： | 2019-11-26 |
| 發明（設計）人： | 李國慶;馬宏圖;韓華;魏利新 | 申請（專利權）人： | 中國科學院自動化研究所 |
| 主分類號： | G06K9/00 | 分類號： | G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 11482 北京瀚仁知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人： | 宋寶庫<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址： | 100080 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 序列 切片 顯微鏡 圖像 采集 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院自動化研究所，未經中國科學院自動化研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610978135.4/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：在皮膚電阻和電容測量之間共享單個電極
- 下一篇：高頻線圈以及磁共振成像裝置
