[發明專利]測定納米級及微米級鐵粉中零價鐵含量的裝置及其用法有效
| 申請號： | 201610977650.0 | 申請日： | 2016-11-08 |
| 公開（公告）號： | CN106290059B | 公開（公告）日： | 2023-08-04 |
| 發明（設計）人： | 張威;韓占濤;呂曉立;李卉;馬春曉 | 申請（專利權）人： | 中國地質科學院水文地質環境地質研究所 |
| 主分類號： | G01N7/18 | 分類號： | G01N7/18 |
| 代理公司： | 北京集智東方知識產權代理有限公司 11578 | 代理人： | 張紅;程立民 |
| 地址： | 050000 河*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測定 納米 微米 鐵粉 中零價鐵 含量 裝置 及其 用法 | ||
【權利要求書】：
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