[發明專利]一種觸摸屏用雙層ITO導電薄膜及其制備方法在審
| 申請號: | 201610962342.0 | 申請日: | 2016-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN107863182A | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發明(設計)人: | 溫泉 | 申請(專利權)人: | 江蘇日久光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01B5/14 | 分類號: | H01B5/14;H01B13/00;G06F3/044 |
| 代理公司: | 上海宏京知識產權代理事務所(普通合伙)31297 | 代理人: | 周高 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 觸摸屏 雙層 ito 導電 薄膜 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明屬于觸摸屏導電薄膜技術領域,特別涉及一種觸摸屏用雙層ITO導電薄膜及其制備方法。
背景技術
觸摸屏在手機、平板電腦及其它顯示屏上獲得了極大的應用,其作為一種顯著改善人機操作界面的輸入設備,具有直觀簡單、反應速度快、節省空間和易于操作交流等優點。觸摸屏制備中常用到ITO導電薄膜,ITO導電薄膜是指采用磁控濺射的方法,在透明有機薄膜材料上濺射透明ITO導電薄膜鍍層得到的透明導電膜。ITO(Indium Tin Oxides,銦錫金屬氧化物),作為一種采用的N型氧化物半導體,被廣泛地應用于觸摸屏領域。現有的ITO導電薄膜,由于其厚度對結晶過程的影響,存在電阻率高、光透過率差和使用壽命短等問題。
發明內容
基于此,本發明提供一種觸摸屏用雙層ITO導電薄膜及其制備方法,其具有電阻率低、光透過率高和使用壽命長等優點。
本發明的技術方案是:一種觸摸屏用雙層ITO導電薄膜,包括基片和分別沉積在基片兩側的上ITO電極層和下ITO電極層;所述上ITO電極層包括依次層疊設置且厚度依次增大的第一ITO電極層、第二ITO電極層和第三ITO電極層,第三ITO電極層沉積在所述的基片上;所述下ITO電極層包括依次層疊設置且厚度依次減小的第四ITO電極層、第五ITO電極層和第六ITO電極層,第四ITO電極層沉積在所述的基片上。
其中,基片不導電,通過在基片兩側設計上ITO電極層和下ITO電極層,構成電容式觸摸屏用膜,通過將上ITO電極層設計成厚度依次減小的第三ITO電極層、第二ITO電極層和第一ITO電極層,下ITO電極層設計成厚度依次減小的第四ITO電極層、第五ITO電極層和第六ITO電極層,避免厚度對ITO膜結晶過程的影響,完善ITO膜的晶相結構,以提高整個ITO導電薄膜的光透過率,降低其電阻率,并增加其使用壽命,任何一點可承受8千萬次以上的觸摸。
本發明中,優選地,所述基片厚度為150-200微米,基片采用聚對苯二甲酸乙二醇脂樹脂。聚對苯二甲酸乙二醇脂樹脂具有較好的光透性,但光透性隨厚度增加而降低,厚度設計為150-200微米,既能滿足光透性要求,又能滿足強度和韌性要求,達到光透性和使用壽命的最佳組合。
在優選的實施例中,所述第一ITO電極層和第六ITO電極層外均設有絕緣的電極保護層。電極保護層的設計進一步提升了使用壽命。
進一步地,所述第三ITO電極層和第四ITO電極層的厚度相同,為14-16納米;所述第二ITO電極層和第五ITO電極層的厚度相同,為11-13納米;所述第一ITO電極層和第六ITO電極層的厚度相同,為8-10納米。基片兩側的ITO電極層采用對稱式的結構設計,并嚴格控制各層膜的厚度,進一步降低厚度對結晶過程的影響,以降低其電阻率并提升其光透性。
本發明還提供一種觸摸屏用雙層ITO導電薄膜的制備方法,包括如下過程:
步驟A、將基片放置于磁控濺射設備的裝載室,密封后進行抽真空;
步驟B、基片加熱到205℃-215℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在基片的頂面進行第一次沉積,得到14-16納米厚的第三ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟C、將沉積有第三ITO電極層的基片加熱至215℃-225℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在第三ITO電極層的表面進行沉積,得到11-13納米厚的第二ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟D、將沉積有第二ITO電極層的基片加熱至225℃-235℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在第二ITO電極層的表面進行沉積,得到8-10納米厚的第一ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟E、翻轉所述沉積有第一ITO電極層的基片,將其加熱至205℃-215℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在基片的頂面進行沉積,得到14-16納米厚的第四ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟F、將沉積有第四ITO電極層的基片加熱至215℃-225℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在第四ITO電極層的表面進行沉積,得到11-13納米厚的第五ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟G、將沉積有第五ITO電極層的基片加熱至225℃-235℃后運送至磁控濺射設備的濺射室,采用磁控濺射方式在第五ITO電極層的表面進行沉積,得到8-10納米厚的第六ITO電極層,運送至冷卻室冷卻至室溫;
步驟H、將步驟G中冷卻后的基片運送至卸載室進行卸片。
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