[發明專利]用于確定電極間隔的方法和測量設備以及X射線管有效
| 申請號： | 201610918045.6 | 申請日： | 2016-10-21 |
| 公開（公告）號： | CN107068523B | 公開（公告）日： | 2020-01-10 |
| 發明（設計）人： | O.霍伊爾曼;G.勒里希 | 申請（專利權）人： | 西門子保健有限責任公司 |
| 主分類號： | H01J35/04 | 分類號： | H01J35/04;H03J3/00;H05G1/02 |
| 代理公司： | 72001 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 臧永杰;劉春元 |
| 地址： | 德國埃*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電極間隔 耦合電容 串聯振蕩回路 陰極 陽極 測量設備 諧振頻率 計算機程序產品 計算機可讀介質 可變的 漏電感 自動地 串聯 | ||
1.用于確定X射線管（1）的陰極（4）和陽極（3）之間的電極間隔的方法，其特征在于：
- 自動地確定串聯振蕩回路的諧振頻率，所述串聯振蕩回路由所述X射線管（1）的串聯漏電感以及在所述陽極（3）和所述陰極（4）之間的耦合電容構成；
- 由所述諧振頻率確定所述耦合電容和
- 由所述耦合電容確定所述電極間隔。
2.按照權利要求1所述的方法，其特征在于，利用方程式
計算所述耦合電容，其中是所述耦合電容，是所述串聯漏電感，并且是所述諧振頻率。
3.按照權利要求2所述的方法，其特征在于，利用方程式
計算所述電極間隔，其中是所述電極間隔，是真空的介電常數，是所述陽極（3）和所述陰極（4）之間的介質的介電常數，并且是由所述陽極（3）和所述陰極（4）構成的平板電容器的面積。
4.計算機可讀介質，計算機程序被存儲在所述計算機可讀介質上，其中所述計算機程序能夠被加載到測量設備（2）的存儲設備中，其中當在所述測量設備（2）上實施所述計算機程序時，利用所述計算機程序實施按照權利要求1至3之一所述的方法的步驟。
5.用于確定X射線管（1）的陰極（4）和陽極（3）之間的電極間隔的測量設備（2），所述測量設備被構造和編程用于：
- 確定串聯振蕩回路的諧振頻率，所述串聯振蕩回路由所述X射線管（1）的串聯漏電感以及在所述陽極（3）和所述陰極（4）之間的耦合電容構成，
- 由所述諧振頻率確定所述耦合電容，和
- 由所述耦合電容確定所述電極間隔。
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