[發明專利]沉積顆粒的粒徑平均值測量方法在審
| 申請號： | 201610917779.2 | 申請日： | 2014-05-22 |
| 公開（公告）號： | CN106501139A | 公開（公告）日： | 2017-03-15 |
| 發明（設計）人： | 張元福;姜在興;王航;張海波 | 申請（專利權）人： | 中國地質大學（北京） |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371 | 代理人： | 劉哲源 |
| 地址： | 100083*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 沉積 顆粒 粒徑 平均值 測量方法 | ||
【權利要求書】：
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