[發明專利]一種天平加載頭位姿檢測裝置

有效

• 申請號: 201610910346.4
• 申請日: 2016-10-19
• 公開（公告）號: CN107063082B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 江孝國;李洪;楊興林;王遠;楊國君;龍全紅;張小丁;李一丁;蔣薇;李偉峰
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號: G01M9/06
• 分類號: G01M9/06;G01B11/00;G06T7/00;G06K9/32;G06K9/62
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 馮龍

1.一種天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

指示光源、位置探測結構，所述指示光源安裝在待檢測天平加載頭上表面， 所述位置探測結構包括：指示光斑照射靶面、光學成像系統、位置探測器，所述指示光斑照射靶面開設有中心孔，所述位置探測器的端面設有開口，所述開口中心線與所述中心孔中心線重合，所述位置探測器固定在所述指示光斑照射靶面的背面，所述光學成像系統位于所述指示光斑照射靶面的正面前方。

2.根據權利要求1所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述光學成像系統包括：CCD相機和鏡頭。

3.根據權利要求1所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述位置探測結構固定在安裝支架上。

4.根據權利要求1所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述裝置具體包括4個位置探測結構，所述4個位置探測結構均勻分布在待檢測天平加載頭四周。

5.根據權利要求1所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括連接支架，所述連接支架一端與所述光學成像系統連接，所述連接支架另一端與所述位置探測器連接。

6.根據權利要求1所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述位置探測器具體包括：外殼、光電探測器、光電探測器安裝板、信號處理器，所述光電探測器、所述光電探測器安裝板、所述信號處理器均安裝在外殼內，所述光電探測器芯片安裝在光電探測器安裝板上，所述光電探測器與所述信號處理器連接，所述光電探測器中心線與所述開口中心線重合。

7.根據權利要求6所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述光電探測器的測量面積大于中心孔的面積。

8.根據權利要求6所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述光電探測器包括：面陣CCD、二維PSD。

9.根據權利要求6所述的天平加載頭位姿檢測裝置，其特征在于，所述光電探測器安裝板通過緊固螺釘固定在外殼上。