[發(fā)明專利]一種離子源束流診斷用張角測(cè)量?jī)x在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610906241.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106547013A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-03-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 任秀艷;曹進(jìn)文;李公亮;吳靈美 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)原子能科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01T1/29 | 分類號(hào): | G01T1/29 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 102413 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 離子源 診斷 張角 測(cè)量?jī)x | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)原子能科學(xué)研究院,未經(jīng)中國(guó)原子能科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610906241.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種同位素譜線掃描裝置及方法
- 下一篇:晶體定位方法以及查找表的生成方法





