[發(fā)明專利]雙載子結(jié)晶體管在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610883072.4 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107346784A | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹景琳;林正基;簡(jiǎn)郁芩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/73 | 分類號(hào): | H01L29/73;H01L29/417;H01L29/423 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙載子 結(jié)晶體 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種晶體管,且特別是有關(guān)于一種雙載子結(jié)晶體管(bipolar junction transistor,BJT)。
背景技術(shù)
在傳統(tǒng)雙載子結(jié)晶體管中,會(huì)在射極與基極之間以及基極與集極之間形成場(chǎng)氧化層(field oxide),且射極、基極與集極是以圖案化光刻膠層為掩膜,對(duì)基底進(jìn)行離子注入工藝而形成。
然而,由于場(chǎng)氧化層是在射極、基極與集極之前形成,且用于形成射極、基極與集極的圖案化光刻膠層容易受到場(chǎng)氧化層的影響而產(chǎn)生變動(dòng)(variation),因此摻雜位置容易產(chǎn)生偏移(shift)。亦即,無法精確地在預(yù)定位置形成射極、基極與集極。
此外,由于阱區(qū)中的摻質(zhì)(如,硼等)會(huì)進(jìn)入到場(chǎng)氧化層中,所以使得場(chǎng)氧化層下方的摻雜濃度變低,因而造成阱區(qū)的摻質(zhì)濃度不好控制。
由于受到場(chǎng)氧化層的影響,傳統(tǒng)雙載子結(jié)晶體管無法精確地在預(yù)定位置形成射極、基極與集極,且阱區(qū)的摻質(zhì)濃度不好控制,所以難以提高傳統(tǒng)雙載子結(jié)晶體管的β值與BVceo,因此無法進(jìn)一步提升傳統(tǒng)雙載子結(jié)晶體管的元件效能。(β值=IC/IB,其中IC表示集極的電流,IB表示基極的電流;BVceo表示在基極浮置時(shí),集極到射極的崩潰電壓。)
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種雙載子結(jié)晶體管,其可具有較高的β值與BVceo,進(jìn)而可有效地提升元件效能。
本發(fā)明提供一種雙載子結(jié)晶體管,包括基底、第一阱區(qū)、第二阱區(qū)、射極、集極、基極、第一硬掩膜層與第二硬掩膜層。第一阱區(qū)設(shè)置于基底中。第二阱區(qū)設(shè)置第一阱區(qū)中。射極設(shè)置于第二阱區(qū)中。集極設(shè)置于第一阱區(qū)中。基極設(shè)置于第二阱區(qū)中,且位于射極與集極之間。第一硬掩膜層設(shè)置于射極與基極之間的基底上。第二硬掩膜層設(shè)置于基極與集極之間的基底上。第一阱區(qū)、射極與集極為第一導(dǎo)電型,且第二阱區(qū)與基極為第二導(dǎo)電型。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,基極可為環(huán)狀,且可圍繞射極。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,集極可為環(huán)狀,且可圍繞基極。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,第一硬掩膜層可為環(huán)狀,且可圍繞射極。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,第二硬掩膜層可為環(huán)狀,且可圍繞基極。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,第一硬掩膜層與第二硬掩膜層的材料分別包括經(jīng)摻雜或未經(jīng)摻雜的多晶硅或金屬硅化物。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,第一硬掩膜層的寬度與第二硬掩膜層的寬度可為相同或不同。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,第一導(dǎo)電型與第二導(dǎo)電型中的一者可為N型導(dǎo)電型,且第一導(dǎo)電型與第二導(dǎo)電型中的另一者可為P型導(dǎo)電型。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,更包括隔離結(jié)構(gòu)。隔離結(jié)構(gòu)設(shè)置于集極遠(yuǎn)離第二硬掩膜層的一側(cè)的基底中。
依照本發(fā)明的一實(shí)施例所述,在上述雙載子結(jié)晶體管中,隔離結(jié)構(gòu)可為環(huán)狀,且可圍繞集極。
基于上述,在本發(fā)明所提出的雙載子結(jié)晶體管中,于射極與基極之間以及基極與集極之間分別設(shè)置有第一硬掩膜層與第二硬掩膜層,因此可精確地在預(yù)定位置形成射極、基極與集極。此外,由于第一硬掩膜層與第二硬掩膜層的尺寸可以容易且精確地進(jìn)行控制,因此在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)上更有彈性。
另外,由于可以不在射極與基極之間以及基極與集極之間設(shè)置場(chǎng)氧化層,所以不會(huì)發(fā)生第一阱區(qū)與第二阱區(qū)中的摻質(zhì)進(jìn)入到位于射極與基極之間以及基極與集極之間的場(chǎng)氧化層中的情況,因此較容易控制第一阱區(qū)與第二阱區(qū)的摻質(zhì)濃度。
如此一來,本發(fā)明所提出的雙載子結(jié)晶體管可具有較高的β值與BVceo,進(jìn)而可有效地提升雙載子結(jié)晶體管的元件效能。
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并配合所附圖式作詳細(xì)說明如下。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的雙載子結(jié)晶體管的上視圖。
圖2為沿圖1中的I-I’剖面線的剖面圖。
【符號(hào)說明】
100:雙載子結(jié)晶體管
102:基底
104、106:阱區(qū)
108:射極
110:集極
112:基極
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于旺宏電子股份有限公司,未經(jīng)旺宏電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610883072.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





