[發(fā)明專利]一種消光比測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610872001.4
• 申請日: 2016-09-29
• 公開（公告）號: CN107884158B
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余濤;王滔;蘆國強
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281
• 代理人: 江婷;李發(fā)兵

1.一種消光比測試裝置，其特征在于，包括：衰減器，光電二極管，無自動增益控制電路的跨阻放大器，均方根檢波器、運算放大器、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片和中央處理器，其中，所述衰減器的輸出端與所述光電二極管的輸入端連接，所述光電二極管的輸出端與所述跨阻放大器的輸入端連接，所述跨阻放大器的輸出端與所述均方根檢波器的輸入端連接，所述均方根檢波器的輸出端與所述運算放大器的輸入端連接，所述運算放大器的輸出端與所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片的輸入端連接，所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片與所述中央處理器相連；

所述衰減器，用于將接收的光信號衰減得到衰減后的光信號，并將所述衰減后的光信號傳遞給所述光電二極管；

所述光電二極管，用于將所述衰減后的光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，并將所述電流信號輸出給所述跨阻放大器；

所述跨阻放大器，用于將所述電流信號轉(zhuǎn)化為差分信號并將所述差分信號輸出給所述均方根檢波器；

所述均方根檢波器，用于將所述差分信號轉(zhuǎn)換為直流電壓信號，并將所述直流電壓信號輸出給所述運算放大器；

所述運算放大器，用于放大所述直流電壓信號，并將放大后的所述直流電壓信號輸出給所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片；

所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片，用于將放大后的所述直流電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并將所述數(shù)字信號發(fā)送給所述中央處理器；

所述中央處理器，用于利用所述數(shù)字信號對照預(yù)先設(shè)置的數(shù)字信號與消光比對應(yīng)關(guān)系查找得到待測光收發(fā)器的消光比。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述中央處理器與所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片通過串行外設(shè)接口SPI連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括誤碼發(fā)生器，其中，所述誤碼發(fā)生器，用于與所述待測光收發(fā)器的輸入端連接，向所述待測光收發(fā)器發(fā)送偽隨機信號，所述偽隨機信號用于所述待測光收發(fā)器轉(zhuǎn)換為所述光信號。

4.一種消光比測試方法，其特征在于，包括：

待測光收發(fā)器接收誤碼發(fā)生器產(chǎn)生的偽隨機信號，并將所述偽隨機信號轉(zhuǎn)換為光信號輸出給衰減器，

所述衰減器將接收的所述光信號衰減得到衰減后的光信號，并將所述衰減后的光信號傳遞給光電二極管；

所述光電二極管將所述衰減后的光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，并將所述電流信號輸出給無自動增益控制電路的跨阻放大器；

所述跨阻放大器將所述電流信號轉(zhuǎn)化為差分信號并將所述差分信號輸出給均方根檢波器；

所述均方根檢波器將所述差分信號轉(zhuǎn)換為直流電壓信號，并將所述直流電壓信號輸出給運算放大器；

所述運算放大器放大所述直流電壓信號，并將放大后的所述直流電壓信號輸出給模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片；

所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片將放大后的所述直流電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并將所述數(shù)字信號發(fā)送給中央處理器；

所述中央處理器利用所述數(shù)字信號對照預(yù)先設(shè)置的數(shù)字信號與消光比對應(yīng)關(guān)系查找得到所述待測光收發(fā)器的消光比。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，通過以下方式設(shè)置所述數(shù)字信號與消光比的對應(yīng)關(guān)系：

將校準(zhǔn)光源設(shè)備作為待測光收發(fā)器接入所述衰減器；

所述校準(zhǔn)光源設(shè)備將不同的消光比的光信號輸入到所述衰減器的輸入端；

所述中央處理器分別記錄所述不同的消光比的光信號在模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片輸出端輸出的數(shù)字信號，得到所述數(shù)字信號用與不同的消光比的對應(yīng)關(guān)系。