[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤的斷電測(cè)試裝置及測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610845758.4 | 申請(qǐng)日： | 2016-09-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106294050A | 公開（公告）日： | 2017-01-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳暉;劉現(xiàn)亭 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 深圳市嘉合勁威電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G06F11/22 | 分類號(hào)： | G06F11/22;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44311 | 代理人： | 遲飛飛 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 固態(tài) 硬盤 斷電 測(cè)試 裝置 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市嘉合勁威電子科技有限公司，未經(jīng)深圳市嘉合勁威電子科技有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610845758.4/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù)
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
