[發明專利]標尺和光電編碼器有效
| 申請號： | 201610827562.2 | 申請日： | 2016-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN107024235B | 公開（公告）日： | 2021-04-06 |
| 發明（設計）人： | 平田州 | 申請（專利權）人： | 株式會社三豐 |
| 主分類號： | G01D5/347 | 分類號： | G01D5/347 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 標尺 光電 編碼器 | ||
1.一種標尺，其用于絕對位置檢測型光電編碼器，所述標尺包括：
沿著長度測量方向所設置的與偽隨機碼序列相對應的兩級碼圖案，
其中，所述兩級碼圖案中的碼分別由兩個位的組合構成，以及
使用三個以上的兩個位的組合圖案來表現所述兩級碼圖案中的所述碼，
其中，所述兩級碼圖案中的所述碼分別表示碼“1”或碼“0”，
所述兩個位各自是透光位L或光反射位H，
所述兩級碼圖案中的連續的透光位L的數量等于或小于預定的上限值，以及
所述兩級碼圖案中的連續的光反射位H的數量等于或小于所述預定的上限值，
其中，通過兩個以上的所述兩個位的組合圖案表現所述碼“0”，以及
對于所述兩級碼圖案中的各連續碼“0”，使用與先前的兩個位的組合圖案不同的兩個位的組合圖案。
2.根據權利要求1所述的標尺，其中，
碼“1”由作為透光位L和光反射位H的組合的A圖案來表現，
碼“0”由作為透光位L和透光位L的組合的B圖案或者由作為光反射位H和光反射位H的組合的C圖案來表現，以及
對于所述兩級碼圖案中的各連續碼“0”，交替地使用所述B圖案和所述C圖案。
3.根據權利要求1所述的標尺，其中，碼“1”和碼“0”彼此能夠互換。
4.一種標尺，其用于絕對位置檢測型光電編碼器，所述標尺包括：沿著長度測量方向所設置的與偽隨機碼序列相對應的兩級碼圖案，其中，所述兩級碼圖案中的碼分別由兩個位的組合構成，以及使用三個以上的兩個位的組合圖案來表現所述兩級碼圖案中的所述碼，
其中，所述兩級碼圖案中的碼分別表示碼“1”或碼“0”，
所述兩個位各自是透光位L、光反射位H或半色調位M，
碼“1”由作為透光位L和光反射位H的組合的A圖案來表現，
碼“0”由從作為透光位L和透光位L的組合的B圖案、作為光反射位H和光反射位H的組合的C圖案、以及作為半色調位M和半色調位M的組合的D圖案中所選擇的兩個以上的圖案來表現，以及
對于所述兩級碼圖案中的各連續碼“0”，使用與先前的兩個位的組合圖案不同的兩個位的組合圖案。
5.一種光電編碼器，包括：
根據權利要求1或4所述的標尺；以及
檢測單元，其被設置成能夠沿著所述標尺相對移動，并且被配置為基于所述標尺上的所述偽隨機碼序列來檢測所述標尺上的絕對位置。
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