[發明專利]膜制造方法以及膜制造裝置

有效

• 申請號: 201610825911.7
• 申請日: 2016-09-14
• 公開（公告）號: CN107097278B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 王劍;今佑介
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: B26D5/00
• 分類號: B26D5/00;G01N21/89;G01N21/894
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉文海

本發明提供一種膜制造方法以及膜制造裝置。該膜制造方法包括通過將沿長邊方向搬運的電池用的隔膜卷料(12b)沿長邊方向分切而形成多個耐熱隔膜(12a)的分切工序，分切工序包括對搬運的隔膜卷料(12b)的寬度方向的尺寸或寬度方向的位置進行測定的測定工序。

技術領域

本發明涉及膜制造方法以及膜制造裝置。

背景技術

已知具有光學膜的片狀產品的缺陷檢驗裝置(專利文獻1)。該缺陷檢驗裝置將從保護膜檢驗部得到的缺陷的信息與其位置信息、制造識別信息一起作為碼數據(二維碼、QR碼(注冊商標))而以規定間距形成在PVA膜卷料的一端面。

在先技術文獻

專利文獻1：日本公開專利公報“特開2008-116437號公報(2008年5月22日公開)”

例如，在鋰離子二次電池所使用的隔膜的制造中，在隔膜卷料上產生缺陷，為了確定隔膜卷料上產生的該缺陷的位置而投入大量的勞力。

在以往的制造工序中，在缺陷檢測工序中，一邊搬運隔膜卷料一邊利用缺陷檢測裝置檢測隔膜卷料的缺陷并記錄缺陷的位置，然后在分切工序中，將隔膜卷料向切斷裝置搬運，通過切斷裝置將隔膜卷料切斷(分切)成產品寬度，從而由一片隔膜卷料得到多個隔膜。

然而，在將隔膜卷料一邊通過搬運裝置搬運一邊切斷的情況下，隔膜卷料的寬度方向的位置根據搬運裝置中的隔膜卷料的配置位置、所搬運的隔膜卷料的蛇行或者變形、以及搬運裝置對隔膜卷料施加的張力而變化。其結果是，存在隔膜卷料的切斷位置自原本的切斷位置偏移的可能性。

其結果是，分切后的多個隔膜中的存在該缺陷的隔膜的確定變得困難。特別是，該缺陷的位置越靠近原本的分切線，存在該缺陷的隔膜被錯誤地確定的可能性越高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種在將膜卷料分切而得到多個膜時能夠準確地確定膜卷料中的某個位置與膜的對應關系的膜制造方法以及膜制造裝置。

用于解決課題的方案

為了解決上述的課題，本發明的膜制造方法包括通過將沿長邊方向搬運的膜卷料沿長邊方向分切而形成多個膜的分切工序，所述膜制造方法的特征在于，所述分切工序包括對搬運的所述膜卷料的寬度方向的尺寸或寬度方向的位置進行測定的測定工序。

為了解決上述的課題，本發明的膜制造裝置具備通過將沿長邊方向搬運的膜卷料沿長邊方向分切而形成多個膜的切斷部，所述膜制造裝置的特征在于，所述切斷部具備對搬運至所述切斷部的所述膜卷料的寬度方向的尺寸或寬度方向的位置進行測定的測定部。

發明效果

根據本發明，在將膜卷料分切而得到多個膜時，能夠使膜卷料中的某個位置與膜準確地對應。

附圖說明

圖1是示出實施方式1的鋰離子二次電池的剖面結構的示意圖。

圖2是示出圖1所示的鋰離子二次電池的詳細結構的示意圖。

圖3是示出圖1所示的鋰離子二次電池的另一結構的示意圖。

圖4是用于對上述隔膜卷料的缺陷標記方法的缺陷檢測工序以及缺陷信息記錄工序進行說明的示意圖。

圖5是用于對上述缺陷檢測工序中的基材缺陷檢驗裝置的結構進行說明的圖。

圖6是用于對上述缺陷檢測工序中的涂敷缺陷檢驗裝置的結構進行說明的圖。

圖7是用于對上述缺陷檢測工序中的針孔缺陷檢驗裝置的結構進行說明的圖。

圖8是用于對上述隔膜卷料上形成的缺陷碼的位置的一例進行說明的圖。