[發明專利]一種基于背散射掃描電鏡的礦物顆粒識別方法及系統有效
| 申請號： | 201610825722.X | 申請日： | 2016-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN107818292B | 公開（公告）日： | 2021-04-09 |
| 發明（設計）人： | 徐婷;蒲軍;周宇;孫建芳;鄒敏;曹立迎 | 申請（專利權）人： | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院 |
| 主分類號： | G06K9/00 | 分類號： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人： | 吳大建 |
| 地址： | 100728 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 散射 掃描電鏡 礦物 顆粒 識別 方法 系統 | ||
1.一種基于背散射掃描電鏡的礦物顆粒識別方法，其特征在于，所述方法包括：
將掃描電鏡圖像二值化處理；
基于二值化后的圖像，利用腐蝕膨脹算法確定礦物顆粒的數目；
基于二值化后的圖像計算歐氏距離，利用歐氏距離確定礦物顆粒的位置；
根據所確定的礦物顆粒的數目以及位置還原所述礦物顆粒的形狀以及尺寸從而識別礦物顆粒，
其中，基于腐蝕膨脹算法確定礦物顆粒的數目包括：
獲取腐蝕膨脹次數-礦物顆粒數目變化曲線；
求取所述腐蝕膨脹次數-礦物顆粒數目變化曲線上的曲率最大值，所述曲率最大值對應的礦物顆粒數目值為所述礦物顆粒的數目。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據二值化后的圖像確定礦物顆粒的位置，其中，通過歐式距離局部最大值確定所述礦物顆粒的位置。
3.一種基于背散射掃描電鏡的礦物顆粒識別系統，其特征在于，所述系統包括：
二值化模塊，其配置為將掃描電鏡圖像二值化處理；
礦物顆粒屬性計算模塊，其配置為基于二值化后的圖像，利用腐蝕膨脹算法確定礦物顆粒的數目，基于所述二值化后的圖像計算歐氏距離，利用所述歐氏距離確定所述礦物顆粒的位置；
礦物顆粒還原模塊，其配置為根據所確定的礦物顆粒的數目以及位置還原所述礦物顆粒的形狀以及尺寸從而識別礦物顆粒，
其中，所述礦物顆粒數目計算單元進一步配置為：
獲取腐蝕膨脹次數-礦物顆粒數目變化曲線；
求取所述腐蝕膨脹次數-礦物顆粒數目變化曲線上的曲率最大值，所述曲率最大值對應的礦物顆粒數目值為所述礦物顆粒的數目。
4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述礦物顆粒屬性計算模塊還包含礦物顆粒位置計算單元，所述礦物顆粒位置計算單元配置為通過歐式距離局部最大值確定所述礦物顆粒的位置。
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