[發明專利]用于探測低和高X射線通量的方法和裝置有效
| 申請號： | 201610801590.7 | 申請日： | 2009-07-22 |
| 公開（公告）號： | CN106443755B | 公開（公告）日： | 2019-04-23 |
| 發明（設計）人： | R·卡爾米;A·利夫內 | 申請（專利權）人： | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01T1/20 | 分類號： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光穎;王英 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 探測 射線 通量 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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