[發(fā)明專利]一種陣列基板及其制備方法、顯示面板及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610797896.X | 申請(qǐng)日: | 2016-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106298647B | 公開(公告)日: | 2017-12-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔承鎮(zhèn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1343;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 及其 制備 方法 顯示 面板 | ||
1.一種陣列基板的制備方法,其特征在于,包括:
在襯底上通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成柵金屬層;
在形成有所述柵金屬層和柵絕緣層的襯底上,通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成半導(dǎo)體層和源漏金屬層;所述源漏金屬層包括數(shù)據(jù)線和與所述數(shù)據(jù)線連接的金屬電極;
在形成有所述半導(dǎo)體層和源漏金屬層的襯底上,通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成第一電極,并形成溝道區(qū),所述溝道區(qū)使所述金屬電極形成源極和漏極;
在形成有所述第一電極的襯底上,通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成鈍化層和有機(jī)絕緣層;所述有機(jī)絕緣層至少與所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng);
在形成有所述有機(jī)絕緣層的襯底上,通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成第二電極;
所述有機(jī)絕緣層與所述數(shù)據(jù)線、所述源極和所述漏極、以及所述溝道區(qū)對(duì)應(yīng);或者,所述有機(jī)絕緣層平鋪于所述襯底上,所述有機(jī)絕緣層包括第一部分和第二部分,所述第一部分與所述數(shù)據(jù)線、所述源極和所述漏極、以及所述溝道區(qū)對(duì)應(yīng),所述第二部分對(duì)應(yīng)其他區(qū)域;
所述第一電極為公共電極;所述第二電極為像素電極;
通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成鈍化層和有機(jī)絕緣層,包括:在形成有所述第一電極的襯底上,依次形成鈍化薄膜和感光樹脂薄膜;采用半色調(diào)掩模板對(duì)所述感光樹脂薄膜進(jìn)行曝光,形成感光樹脂完全保留部分、感光樹脂半保留部分和完全去除部分;所述感光樹脂完全保留部分與所述數(shù)據(jù)線、所述源極和所述漏極、以及所述溝道區(qū)對(duì)應(yīng);所述完全去除部分與待形成的露出所述漏極的過(guò)孔對(duì)應(yīng);所述感光樹脂半保留部分與其他區(qū)域?qū)?yīng);采用刻蝕工藝對(duì)所述鈍化薄膜進(jìn)行刻蝕,形成包括過(guò)孔的鈍化層,所述過(guò)孔露出所述漏極;采用灰化工藝對(duì)所述感光樹脂完全保留部分和所述感光樹脂半保留部分進(jìn)行灰化,形成所述有機(jī)絕緣層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述第一電極和所述第二電極均為透明電極。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述像素電極至少通過(guò)設(shè)置在所述鈍化層上的過(guò)孔與所述漏極電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述半導(dǎo)體層和所述源漏金屬層的圖案形狀相同;
通過(guò)一次構(gòu)圖工藝形成第一電極,并形成溝道區(qū),包括:
在形成有所述半導(dǎo)體層和所述源漏金屬層的襯底上形成導(dǎo)電薄膜,并形成光刻膠;
采用普通掩模板對(duì)所述光刻膠進(jìn)行曝光,顯影后形成光刻膠保留圖案,所述光刻膠保留圖案與待形成的所述第一電極、待形成的所述源極和所述漏極、以及所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng);
采用刻蝕工藝對(duì)基板進(jìn)行刻蝕,使所述金屬電極形成所述源極和所述漏極,并形成所述第一電極,同時(shí)形成位于所述數(shù)據(jù)線、所述源極和所述漏極上方的保留圖案。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述半導(dǎo)體層包括a-si層和n+a-si層;
采用刻蝕工藝對(duì)基板進(jìn)行刻蝕,使所述金屬電極形成所述源極和所述漏極,包括:
采用刻蝕工藝對(duì)基板進(jìn)行刻蝕,使所述金屬電極形成所述源極和所述漏極,使所述n+a-si層形成歐姆接觸層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述鈍化層的厚度為
所述有機(jī)絕緣層的厚度為1.5~2.2μm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述第一部分的厚度為1.8~2.7μm,所述第二部分的厚度為
所述鈍化層的厚度為
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述感光樹脂完全保留部分的厚度為2.0~3.0μm;所述感光樹脂半保留部分的厚度為
9.一種顯示面板的制備方法,其特征在于,包括形成權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述陣列基板的制備方法。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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