[發明專利]一種交流發光芯片的老化測試方法和裝置在審
| 申請號： | 201610785909.1 | 申請日： | 2016-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN106443409A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 李克堅;桑鈞晟 | 申請（專利權）人： | 中山昂欣科技有限責任公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中山市高端專利代理事務所(特殊普通合伙)44346 | 代理人： | 袁媛 |
| 地址： | 528400 廣東省中山市翠*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 交流 發光 芯片 老化 測試 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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