[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)單端口多功能復(fù)用的用于集成電路測(cè)試的電路結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610777363.5 | 申請(qǐng)日： | 2016-08-30 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106443408B | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-06-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王大選;卜惠琴;牛瑞萍;王娜芝;蔣亞平;孔祥藝;唐穎炯;吳燕 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 無(wú)錫華潤(rùn)矽科微電子有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/28 | 分類號(hào)： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王潔 |
| 地址： | 214135 江蘇省無(wú)錫*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 實(shí)現(xiàn) 端口 多功能 用于 集成電路 測(cè)試 電路 結(jié)構(gòu) | ||
【說(shuō)明書】：
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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