[發明專利]實現單端口多功能復用的用于集成電路測試的電路結構有效
| 申請號： | 201610777363.5 | 申請日： | 2016-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN106443408B | 公開（公告）日： | 2019-06-14 |
| 發明（設計）人： | 王大選;卜惠琴;牛瑞萍;王娜芝;蔣亞平;孔祥藝;唐穎炯;吳燕 | 申請（專利權）人： | 無錫華潤矽科微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王潔 |
| 地址： | 214135 江蘇省無錫*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 實現 端口 多功能 用于 集成電路 測試 電路 結構 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫華潤矽科微電子有限公司，未經無錫華潤矽科微電子有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610777363.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種小型高溫高壓試驗方法
- 下一篇：一種交流發光芯片的老化測試方法和裝置
