[發明專利]基于結構光和數字散斑測量高溫物體位移和形變的裝置有效
| 申請號： | 201610712823.6 | 申請日： | 2016-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN106197290B | 公開（公告）日： | 2019-01-18 |
| 發明（設計）人： | 何立平;孫紅勝;張玉國;邱超;吳柯萱 | 申請（專利權）人： | 北京振興計量測試研究所 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 馬東偉;張春 |
| 地址： | 100074 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 結構 光和 數字 測量 高溫 物體 位移 形變 裝置 | ||
【說明書】：
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