[發(fā)明專利]基于白光干涉彩色條紋處理的多波長(zhǎng)相移干涉測(cè)量方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610705193.X | 申請(qǐng)日： | 2016-08-22 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106247980A | 公開(kāi)（公告）日： | 2016-12-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 郭彤;顧玥;邊琰;李峰;陳津平;傅星;胡小唐 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 天津大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01B11/24 | 分類號(hào)： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所12201 | 代理人： | 杜文茹 |
| 地址： | 300072*** | 國(guó)省代碼： | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 白光 干涉 彩色 條紋 處理 波長(zhǎng) 相移 測(cè)量方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于天津大學(xué)，未經(jīng)天津大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610705193.X/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：一種基于振鏡的三維掃描儀
- 下一篇：一種管類零部件檢測(cè)方法
