[發明專利]硅納米柱狀陣列材料及其制備方法有效
| 申請號: | 201610604267.0 | 申請日: | 2016-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN106277822B | 公開(公告)日: | 2019-02-15 |
| 發明(設計)人: | 李志剛;馮尚申;王天樂;南浩善 | 申請(專利權)人: | 李志剛;臺州學院 |
| 主分類號: | C03C17/22 | 分類號: | C03C17/22;B81C1/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 臺州市南方商標專利事務所(普通合伙) 33225 | 代理人: | 白家駒 |
| 地址: | 318000 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硅納米柱 陣列材料 制備 陣列膜 襯底 膠體晶體模板 光吸收性能 尺寸可控 光敏器件 緊密排列 六角陣列 能源器件 柱狀陣列 防反射 蜂窩狀 光吸收 峰位 硅柱 合成 覆蓋 應用 | ||
1.硅納米柱狀陣列材料,其特征在于,包括襯底和硅納米柱狀陣列膜,所述硅柱狀陣列膜覆蓋于所述襯底上;
所述硅納米柱狀陣列膜包括多個硅納米柱,各所述硅納米柱緊密排列成蜂窩狀六角陣列;
各所述硅納米柱的直徑為50nm~500nm,硅納米柱的高度為10nm~150nm;
所述硅納米柱的光吸收峰位滿足以下關系式:
λ≈5d+18h
式中,λ為硅納米柱的光吸收峰位,d為硅納米柱的直徑,h為硅納米柱的高度;
且所述硅納米柱的光吸收峰位λ的范圍為200nm~2400nm。
2.如權利要求1所述的硅納米柱狀陣列材料,其特征在于,所述襯底為玻璃襯底或硅片襯底。
3.硅納米柱狀陣列材料的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)清洗襯底;
(2)在所述襯底上合成膠體晶體模板;
(3)通過磁控濺射,在帶有所述膠體晶體模板的所述襯底上合成硅納米柱狀陣列膜,并通過真空加溫去除所述膠體晶體模板;
所述步驟(2)中,采用氣-液界面合成法,使膠體球附于所述襯底表面,在所述襯底表面合成所述膠體晶體模板;
將膠體球溶液:無水乙醇=1:1的體積比混合,將所述襯底至于培養皿中,在所述培養皿中加入去離子水,使水面略高于所述襯底邊緣,將所述膠體球溶液與無水乙醇的混合液滴到所述襯底表面,所述混合液在所述襯底邊緣與所述去離子水發生界面作用,在表面張力的作用下,使膠體球浮于液體表面,形成規則的納米結構膜;用所述襯底將所述納米結構膜撈起,從而在所述襯底上得到所述膠體晶體模板。
4.根據權利要求3所述的硅納米柱狀陣列材料的制備方法,其特征在于,所述膠體球是直徑為50nm~500nm的聚苯乙烯膠體球。
5.根據權利要求3所述的硅納米柱狀陣列材料的制備方法,其特征在于,所述步驟(3)的工序如下:
(301)磁控濺射硅納米膜:將所述步驟(2)合成的帶有膠體晶體模板的襯底置于高真空磁控濺射鍍膜機中,將高純硅靶材放置于磁控濺射靶位,抽真空,進行濺射鍍膜,從而在帶有膠體晶體模板的襯底上合成所述硅納米柱狀陣列膜;
(302)去除膠體晶體模板:將所述工序(301)中合成的所述硅納米柱狀陣列膜在真空中加溫到400度,熱處理30分鐘,將所述膠體球燒掉,得到去除所述膠體晶體模板后的硅納米柱狀陣列膜。
6.根據權利要求5所述的硅納米柱狀陣列材料的制備方法,其特征在于,
所述濺射鍍膜的濺射功率為60±5瓦,預濺射時間為1000±50秒,濺射時間為1500~9000秒;
所述硅靶材中硅的純度為99.99%。
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