[發明專利]數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法

有效

• 申請號: 201610592972.3
• 申請日: 2016-07-26
• 公開（公告）號: CN107368258B
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 黃圣元;張譽繽
• 申請（專利權）人: 慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 廣州圣理華知識產權代理有限公司 44302
• 代理人: 頓海舟;李唐明

本發明涉及一種數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法，所述數據儲存媒體包括有多個數據行。所述方法包括下列步驟：a)以多個損壞數據行群組來標注或記錄多個損壞數據行，上述損壞數據行系選自于上述數據行，每一損壞數據行群組標注或記錄損壞數據行之位置及損壞數據行之數目；b)判斷是否有至少一損壞數據行未標注或記錄于上述損壞數據行群組，其中，至少一損壞數據行未包含于上述損壞數據行；c)當判斷為是時，將任二個相隔P個數據行的損壞數據行標注或記錄于上述損壞數據行群組，其中P為正整數；以及d)調整P的數值并執行步驟b。

技術領域

本發明涉及一種數據儲存媒體的相關技術，且特別是關于一種數據儲存媒體的損壞數據行的篩選方法。

背景技術

數據儲存裝置，例如是固態硬盤(solid state drive，SSD)、SD記憶卡(securedigital memory card)或閃存碟(U盤)等，主要由控制單元與數據儲存媒體所構成，而其中數據儲存媒體又是由多個用以儲存數據的數據行(column)所構成。

在數據儲存裝置的制造過程中，難免會生產出次級品，而這些次級品在販賣給使用者之前，都要先將數據儲存媒體中的損壞數據行(bad column)篩選出來并記錄在損壞數據行總表中。據此，控制單元在往后的操作中，便不會再對記錄的損壞數據行存取數據，進而避免存取的數據發生錯誤。

然而，舊有的標注或記錄方式乃是對損壞數據行一個一個地標注或記錄，然而，損壞數據行的標注或記錄的數量有其限制(例如最多可標注254個)，因此若是數據儲存媒體的瑕疵程度較嚴重，因而具有超過可標注數量的損壞數據行，且可標注的數量也用完時，那么數據儲存媒體中尚未標注的損壞數據行便可能消耗錯誤校正碼(error correctingcode，ECC)的校正能力(例如可校正44個比特(bit))，造成原本可以校正的數據無法被適當的校正。

發明內容

因此，本發明的目的在提供一種數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法，使用此新篩選方法可以將鄰近的損壞數據行合并成損壞數據行群組，并以群組的方式來標注，因此在相同的標注數量限制下可標注更多的損壞數據行。

本發明提出一種數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法，所述之數據儲存媒體包括有多個數據行，而所述之篩選方法包括有下列步驟：a)以多個損壞數據行群組來標注或記錄多個損壞數據行，上述損壞數據行系選自于上述數據行，每一損壞數據行群組標注或記錄損壞數據行之位置及損壞數據行之數目；b)判斷是否有至少一損壞數據行未標注或記錄于上述損壞數據行群組，其中，至少一損壞數據行未包含于上述損壞數據行；c)當判斷為是時，將任二個相隔P個數據行的損壞數據行標注或記錄于上述損壞數據行群組，其中P為正整數；以及d)調整P的數值并執行步驟b。

本發明之篩選方法系將鄰近的損壞數據行合并成損壞數據行群組，并以群組的方式來標注，因此在相同的標注數量限制下可標注更多的損壞數據行。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其他目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉優選實施例，并配合附圖，詳細說明如下。

附圖說明

圖1為依照本發明一實施例之數據儲存媒體的示意圖。

圖2為依照本發明一實施例之數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法的流程圖。

圖3為部分之損壞數據行的分布示意圖。

圖4為依照本發明第二實施例之數據儲存媒體之損壞數據行的篩選方法的流程圖。

具體實施方式