[發(fā)明專利]一種用于掃描鏈測試中調(diào)整芯片模式的裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610591963.2 | 申請日： | 2016-07-25 |
| 公開（公告）號： | CN106291337B | 公開（公告）日： | 2020-01-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 榮海濤;彭磊 | 申請（專利權(quán)）人： | 瑞薩集成電路設(shè)計(北京)有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/3185 | 分類號： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 湯在彥 |
| 地址： | 100191 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 掃描 測試 調(diào)整 芯片 模式 裝置 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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