[發(fā)明專利]新型復(fù)合交流接觸器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610527417.2
• 申請日: 2016-07-07
• 公開（公告）號: CN107591283A
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳軍;馮偉;許祝
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶瑞升康博電氣有限公司
• 主分類號: H01H47/18
• 分類號: H01H47/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電氣自動化控制技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及到一種新型復(fù)合交流接觸器。

背景技術(shù)

交流接觸器的動作過程是一個復(fù)雜的電、磁、熱、機(jī)械運(yùn)動的過程，傳統(tǒng)的交流接觸器是利用電磁原理通過控制電路和可動銜鐵運(yùn)動來帶動觸頭控制主電路通斷的。交流接觸器優(yōu)點是接觸電阻小，動作時間較慢，在觸點開關(guān)過程中容易產(chǎn)生涌流，在大電流高電壓情況下易產(chǎn)生火花及電弧，長期使用其觸點非常容易燒結(jié)粘連，嚴(yán)重影響其壽命。隨著技術(shù)的發(fā)展，人們又采用可控硅等大功率開關(guān)器件作為電子開關(guān)來替代接觸器，可控硅作為電子開關(guān)其優(yōu)點是響應(yīng)速度快，可以克服涌流問題。但是，可控硅本身存在功耗，在大功率應(yīng)用時，會有明顯的發(fā)熱，比較容易損壞,在實際應(yīng)用中，故障多半是由可控硅損壞所引起的。用接觸器或可控硅作為開關(guān)裝置在實際現(xiàn)場使用過程中，始終存在這樣或那樣的問題。

進(jìn)入21 世紀(jì),交流接觸器在技術(shù)上也有新的進(jìn)展。隨著電子元件質(zhì)量提高、價格下降,電磁兼容技術(shù)逐步成熟,尤其是計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展與應(yīng)用、交流接觸器與中央控制計算機(jī)雙向通信的實現(xiàn),使得交流接觸器必須朝著電子化、機(jī)電一體化方向發(fā)展,同時要求部分電器具有智能化功能。目前,智能化電器的發(fā)展主要集中在萬能式斷路器、塑殼式斷路器、交流接觸器以及電動機(jī)控制器等產(chǎn)品。其中,智能型交流接觸器的主要特征是裝有智能型電磁系統(tǒng),其控制回路包括電壓檢測電路、吸合信號發(fā)生電路和保持信號發(fā)生電路;它能判別門檻吸合電壓,當(dāng)控制電源電壓低于接觸器門檻吸合電壓時,不發(fā)出吸合信號,交流接觸器不能合閘并有相應(yīng)顯示; 交流接觸器吸合后能降低激磁電流,達(dá)到節(jié)能的目的。

近年來,隨著微處理器技術(shù)、電力電子技術(shù)、通信技術(shù)等在低壓電器中的廣泛應(yīng)用,交流接觸器領(lǐng)域的智能化得到了快速發(fā)展,出現(xiàn)了不同種類的智能交流接觸器產(chǎn)品。然而,由于其成本數(shù)倍于原來交流接觸器,該電器應(yīng)用的領(lǐng)域受到很大的局限,在一定程度上又影響了智能交流接觸器的進(jìn)一步發(fā)展。

如何降低成本,提高智能交流接觸器的性價比，如何找一種能夠兼顧以上兩種開關(guān)裝置優(yōu)點，這就是本發(fā)明的關(guān)鍵所在。本發(fā)明在不改動現(xiàn)有交流接觸器結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上，增加控制單元，使得交流接觸器具有智能功能同時又具有了接觸器+可控硅電子開關(guān)即復(fù)合開關(guān)功能，這就大大提升了交流接觸器應(yīng)用范圍 。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明目的是基于微處理器控制可控硅與接觸器進(jìn)行開關(guān)動作，將可控硅與接觸器觸點并聯(lián)使用，由可控硅實現(xiàn)電壓過零投入與電流過零切除，由接觸器接點來通過連續(xù)電流，這樣就避免了可控硅的導(dǎo)通損耗問題，也避免了接觸器在投入和切除時產(chǎn)生的電弧。

本發(fā)明通過以下技術(shù)方案予以實施。

新型復(fù)合交流接觸器包括有A相交流采樣電路1、B相交流采樣電路2、C相交流采樣電路3、接觸器線圈4、接觸器A相觸點5、接觸器B相觸點8、接觸器C相觸點11、A相可控硅保護(hù)二極管6、B相可控硅保護(hù)二極管9、C相可控硅保護(hù)二極管12、A相可控硅7、B相可控硅10、C相可控硅13、接觸器A相觸點閉合檢測電路14、接觸器B相觸點閉合檢測電路16、接觸器C相觸點閉合檢測電路18、A相可控硅過零觸發(fā)電路15、B相可控硅過零觸發(fā)電路17、C相可控硅過零觸發(fā)電路19、接觸器驅(qū)動單元20、交流接觸器線圈工作電流檢測電路21、微處理器單元22、控制輸入選擇單元2、控制單元電源24 組成。

進(jìn)一步：A相交流采樣電路1、B相交流采樣電路2、C相交流采樣電路3分別采集三相交流輸入電源A相、B相和C相的電壓信號，采集后的信號送往微處理器單元22。

進(jìn)一步：三相交流輸入電源A相與接觸器觸點5和A相可控硅7并聯(lián)連接后送往負(fù)載；三相交流輸入電源B相與接觸器觸點8和B相可控硅10并聯(lián)連接后送往負(fù)載；三相交流輸入電源C相與接觸器觸點11和C相可控硅13并聯(lián)連接后送往負(fù)載。

進(jìn)一步：A相可控硅保護(hù)二極管6并聯(lián)在A相可控硅7陽極和陰極之間、B相

可控硅保護(hù)二極管9并聯(lián)在B相可控硅10陽極和陰極之間、C相可控硅保護(hù)二極管12并聯(lián)在C相可控硅13陽極和陰極之間,用于保護(hù)可控硅。

進(jìn)一步：接觸器A相觸點閉合檢測電路14、接觸器B相觸點閉合檢測電路16和接觸器C相觸點閉合檢測電路18分別接在接觸器觸點5、接觸器觸點8和接觸器觸點11上，將各觸點閉合狀況送往微處理器單元22。