[發(fā)明專利]一種轉(zhuǎn)移和控制納米結(jié)構(gòu)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610505541.9 | 申請(qǐng)日: | 2016-07-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106006546B | 公開(公告)日: | 2017-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張剛;趙志遠(yuǎn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 吉林大學(xué) |
| 主分類號(hào): | B81C1/00 | 分類號(hào): | B81C1/00 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春吉大專利代理有限責(zé)任公司22201 | 代理人: | 劉世純,王恩遠(yuǎn) |
| 地址: | 130012 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 轉(zhuǎn)移 控制 納米 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于材料科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種轉(zhuǎn)移和控制納米結(jié)構(gòu)的方法。
背景技術(shù)
對(duì)于納米結(jié)構(gòu)材料,人們希望它能夠展現(xiàn)宏觀材料所不具備的獨(dú)特性質(zhì),這就推動(dòng)了納米科學(xué)在各個(gè)領(lǐng)域的深入研究。在納米結(jié)構(gòu)體系中,包含越多種類的結(jié)構(gòu)基元,所展現(xiàn)的性質(zhì)就會(huì)越豐富;但是,這也為制備特定的結(jié)構(gòu)形貌帶來了更多的挑戰(zhàn),尤其是在豎直方向上構(gòu)筑三維的、異質(zhì)的結(jié)構(gòu)。因此,在納米結(jié)構(gòu)制備過程中,要求納米結(jié)構(gòu)能夠被單個(gè)或者整體轉(zhuǎn)移和操控。在保持納米結(jié)構(gòu)完整性以及控制它們?nèi)∠虻耐瑫r(shí),將納米結(jié)構(gòu)從源基底可控地轉(zhuǎn)移到目標(biāo)基底,已成為制備納米設(shè)備的必要條件,也是推動(dòng)納米技術(shù)發(fā)展的重要因素[1,2]。
目前,一些轉(zhuǎn)移納米結(jié)構(gòu)的方法主要集中在印刷轉(zhuǎn)移[3,4],以及二維膜材料的轉(zhuǎn)移[5,6]。但是對(duì)納米結(jié)構(gòu)連續(xù)地重復(fù)轉(zhuǎn)移還很難實(shí)現(xiàn),基底的選擇也是限制條件。發(fā)展一種穩(wěn)定的、通用的方法,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)納米結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單地轉(zhuǎn)移和精確地控制,成為發(fā)展納米技術(shù)和滿足實(shí)際應(yīng)用的迫切需求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種簡(jiǎn)單、穩(wěn)定地轉(zhuǎn)移和精確地控制納米結(jié)構(gòu)的方法。
本方法涉及到納米切割技術(shù)、物理氣相沉積技術(shù)、自支持膜技術(shù)以及一些刻蝕方面的技術(shù)。以聚合物薄膜作為載體,活潑金屬層作為犧牲層轉(zhuǎn)移和控制由納米切割等技術(shù)制備的納米結(jié)構(gòu),通過連續(xù)的堆疊操作,可以構(gòu)筑各種二維、三維甚至異質(zhì)結(jié)構(gòu),進(jìn)而提升納米制備技術(shù)的應(yīng)用范圍。整個(gè)轉(zhuǎn)移過程在常溫常壓條件下進(jìn)行,操作過程簡(jiǎn)單快速,能夠保持納米結(jié)構(gòu)的完整性和均一性,精確控制納米結(jié)構(gòu)的取向和位置,并且不受基底材料和形貌的限制。
為此,本發(fā)明以轉(zhuǎn)移納米切割技術(shù)制備的納米結(jié)構(gòu)為例,實(shí)現(xiàn)納米結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移與控制,具體包括以下步驟:
1)取潔凈的沉積基底,置于真空條件下,以的速度熱蒸發(fā)沉積金屬鋁,沉積厚度為10~50nm,得到鋁膜基底;
2)將40~80μL的1H,1H,2H,2H-全氟辛基三氯硅烷加入到小稱量瓶中,與另一個(gè)潔凈硅片一同放入密閉的干燥器中,60~80℃下保溫1~3小時(shí),得到氟化硅片;在真空條件下,在氟化硅片表面固定一個(gè)帶有1~2mm寬、5~10mm長(zhǎng)的 矩形孔的聚四氟乙烯掩板,在聚四氟乙烯掩板的掩蔽作用下,在氟化硅片表面制備厚度為10~300nm的納米結(jié)構(gòu)材料矩形膜圖案;取6~10mL環(huán)氧樹脂預(yù)聚體(預(yù)聚體與固化劑的體積比例為15:2)覆蓋矩形膜圖案,在50~80℃下固化2~5小時(shí)后,環(huán)氧樹脂粘附著納米結(jié)構(gòu)材料矩形膜圖案一并從氟化硅片上脫離;
或在真空條件下,在硅片表面固定一個(gè)帶有1~2mm寬、5~10mm長(zhǎng)的矩形孔的聚四氟乙烯掩板,在聚四氟乙烯掩板的掩蔽作用下,在硅片表面制備厚度為10~300nm的納米結(jié)構(gòu)材料矩形膜圖案;取6~10mL硫醇烯類光固化樹脂(固化劑比例為1wt%)覆蓋納米結(jié)構(gòu)材料矩形膜圖案,在30~50W紫外光下固化2~5分鐘后,硫醇烯類光固化樹脂粘附著矩形膜圖案一并從硅片上脫離;
為了得到適合切割的樣品模塊,沿著矩形膜圖案邊緣將膜圖案切下來,置于聚乙烯模具的矩形凹槽當(dāng)中,添加環(huán)氧樹脂預(yù)聚體或硫醇烯類光固化樹脂之后,在50~80℃下固化2~5小時(shí),形成環(huán)氧樹脂或硫醇烯類光固化樹脂包覆矩形膜圖案的長(zhǎng)方體樣品模塊;接下來將該樣品模塊圍繞著膜圖案修整成方便切割的梯形體結(jié)構(gòu),梯形體結(jié)構(gòu)的上底平面和下底平面平行于膜圖案平面,并且下底寬度適合金剛石刀的寬度;將修整后的梯形體結(jié)構(gòu)模塊固定于切片機(jī)的樣品卡盤中,首先利用玻璃刀進(jìn)行預(yù)切割,使得模塊的梯形結(jié)構(gòu)端形成光滑的表面,再替換成2~4mm寬的金剛石刀,刀槽內(nèi)注滿水后,以0.6~1.2mm/s的速度以及垂直膜圖案平面的方向切割梯形體結(jié)構(gòu)模塊為厚度10nm~10μm的切割薄片;制得的切割薄片漂浮在刀槽內(nèi)的水面上,將步驟1)制得的鋁膜基底伸入液面以下,通過提拉把切割薄片收集到基底上;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于吉林大學(xué),未經(jīng)吉林大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610505541.9/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 轉(zhuǎn)移支撐件及轉(zhuǎn)移模塊
- 轉(zhuǎn)移頭及其制備方法、轉(zhuǎn)移方法、轉(zhuǎn)移裝置
- 器件轉(zhuǎn)移裝置、轉(zhuǎn)移系統(tǒng)及轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移設(shè)備和轉(zhuǎn)移系統(tǒng)
- 轉(zhuǎn)移基板及制備方法、轉(zhuǎn)移裝置、轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移裝置與轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移系統(tǒng)和轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移膜、轉(zhuǎn)移組件和微器件曲面轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移頭、轉(zhuǎn)移裝置和轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移工具及轉(zhuǎn)移方法
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺(tái)結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





