[發明專利]一種用于測量石英晶體晶片的治具在審
| 申請號： | 201610502309.X | 申請日： | 2016-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN105974165A | 公開（公告）日： | 2016-09-28 |
| 發明（設計）人： | 王金濤;楊勇;葉秀忠 | 申請（專利權）人： | 隨州泰華電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 441300 湖*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 測量 石英 晶體 晶片 | ||
【說明書】：
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