[發(fā)明專利]用于質(zhì)譜分析的方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610481866.8 | 申請日： | 2012-02-14 |
| 公開（公告）號： | CN105869982B | 公開（公告）日： | 2018-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 伊恩·W·亨特;布萊恩·D·埃蒙;哈羅德·F·埃蒙 | 申請（專利權(quán)）人： | 麻省理工學院 |
| 主分類號： | H01J49/00 | 分類號： | H01J49/00;H01J49/14;H01J49/30 |
| 代理公司： | 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018 | 代理人： | 柴德海;康泉 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 質(zhì)譜儀 裝置及系統(tǒng) 質(zhì)譜分析 離子泵 小型的 板載 功率轉(zhuǎn)換電路 可變幾何形狀 測量分辨率 機械過濾器 數(shù)字控制器 質(zhì)量分析器 質(zhì)譜儀操作 高壓電 磁場區(qū)域 設(shè)計性能 質(zhì)譜數(shù)據(jù) 泵浦源 低成本 可變的 離子源 分辨率 磁軛 功耗 饋通 通量 分辨 室內(nèi) 返回 計算機 外部 | ||
【權(quán)利要求書】：
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