[發(fā)明專利]一種電感耦合等離子光譜測定電熔氧化鋯的樣品處理方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610412400.2 | 申請日： | 2016-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN106092685A | 公開（公告）日： | 2016-11-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 彭壽;嚴回;李建梅;董樹人;王永和 | 申請（專利權(quán)）人： | 蚌埠中恒新材料科技有限責(zé)任公司;安徽中創(chuàng)電子信息材料有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28;G01N21/71 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所 34113 | 代理人： | 楊晉弘 |
| 地址： | 233010 安徽*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電感 耦合 等離子 光譜 測定 氧化鋯 樣品 處理 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蚌埠中恒新材料科技有限責(zé)任公司;安徽中創(chuàng)電子信息材料有限公司，未經(jīng)蚌埠中恒新材料科技有限責(zé)任公司;安徽中創(chuàng)電子信息材料有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610412400.2/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
