[發明專利]一種帶螺栓外形半導體產品老化測試方法有效
| 申請號： | 201610379972.5 | 申請日： | 2016-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN106405360B | 公開（公告）日： | 2020-01-31 |
| 發明（設計）人： | 袁錕;王明康;代騫;楊輝 | 申請（專利權）人： | 中國振華集團永光電子有限公司(國營第八七三廠) |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 52114 貴陽睿騰知識產權代理有限公司 | 代理人： | 谷慶紅 |
| 地址： | 550018 貴州省*** | 國省代碼： | 貴州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 螺栓 外形 半導體 產品 老化 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
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