[發(fā)明專利]一種在常溫環(huán)境中測量固體目標(biāo)紅外特征的模擬實(shí)驗(yàn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610348795.4 | 申請日： | 2016-05-24 |
| 公開（公告）號： | CN106066340B | 公開（公告）日： | 2018-11-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 吉洪湖;劉健;王浩;葉志峰;劉桐 | 申請（專利權(quán)）人： | 南京航空航天大學(xué) |
| 主分類號： | G01N25/00 | 分類號： | G01N25/00;G01J5/00 |
| 代理公司： | 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 張耀文 |
| 地址： | 210016 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 常溫 環(huán)境 測量 固體 目標(biāo) 紅外 特征 模擬 實(shí)驗(yàn) 方法 | ||
【說明書】：
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