[發(fā)明專利]一種檢測裝置及其光學(xué)系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610346109.X
• 申請日: 2016-05-23
• 公開（公告）號: CN105784642A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 席紅波;陳明峰
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市國賽生物技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47;G01N21/59
• 代理公司: 深圳市深佳知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王仲凱

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及醫(yī)療器械領(lǐng)域中的一種特定蛋白分析儀的散射比濁檢測裝 置，尤其涉及一種檢測裝置及其光學(xué)系統(tǒng)。

背景技術(shù)

特種蛋白質(zhì)分析儀是近幾年來國內(nèi)十分流行的臨床檢驗設(shè)備。從原理上 來講，特種蛋白質(zhì)分析儀的檢測原理基本均為免疫比濁測試，常用的為透射 比濁，其操作簡便，適用于普通的自動生化分析儀和普通的分光光度計，幾 乎所有的實驗室均能開展，不足的是靈敏度和精密度均不夠理想，所需的抗 血清量大，檢測的周期較長。

因此，如何提高現(xiàn)有儀器的檢測靈敏度和檢測結(jié)果精密度是亟待解決的 問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種檢測裝置及其光學(xué)系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中 透射比濁檢測儀器的檢測靈敏度低和檢測結(jié)果精密度低的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種光學(xué)系統(tǒng)，包括：

激光器，用于發(fā)射激光；

沿所述激光的光軸依次設(shè)置的至少一個光闌、反應(yīng)容器和透射光電傳感 器，所述透射光電傳感器用于檢測經(jīng)反應(yīng)容器后的透射激光的光強；

至少一個散射光電傳感器，所述散射光電傳感器用于檢測經(jīng)過反應(yīng)容器 后的散射光的光強，其中，所述散射光電傳感器的光學(xué)通道與所述激光的光 軸成大于0°且小于180°的夾角。

優(yōu)選地，所述散射光電傳感器的個數(shù)為1個，且所述散射光電傳感器的光 學(xué)通道與所述激光的光軸的夾角為90°。

優(yōu)選地，所述散射光電傳感器的個數(shù)為3個，且所述散射光電傳感器的光 學(xué)通道與所述激光的光軸夾角分別為17°、45°和90°。

優(yōu)選地，所述光闌個數(shù)為兩個，兩個光闌沿所述激光的光軸相對設(shè)置， 位于所述激光器與所述反應(yīng)容器之間。

優(yōu)選地，靠近所述反應(yīng)容器的光闌與所述反應(yīng)容器之間還包括第一透鏡。

優(yōu)選地，還包括第二透鏡和第三透鏡，所述第二透鏡設(shè)置于所述透射光 電傳感器與所述反應(yīng)容器之間，所述第三透鏡與所述散射光電傳感器一一對 應(yīng)，每個所述散射光電傳感器與所述反應(yīng)容器之間均設(shè)置有與所述散射光電 傳感器對應(yīng)的所述第三透鏡。

優(yōu)選地，還包括光學(xué)架，所述光學(xué)架用于將光學(xué)系統(tǒng)的各部件固定在光 學(xué)架上。

優(yōu)選地，所述光學(xué)架上還設(shè)置有激光器水平調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選地，還包括擋光片，所述擋光片位于所述反應(yīng)容器背離所述激光器 側(cè)，且所述光學(xué)架上還設(shè)置有消光槽，所述消光槽與所述擋光片形成封閉腔 體。

本發(fā)明還提供一種檢測裝置，包括上面所述的光學(xué)系統(tǒng)。

經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，本發(fā)明提供一種檢測裝置及其光學(xué)系統(tǒng)，其 中，所述光學(xué)系統(tǒng)包括用于發(fā)射激光的激光器；沿所述激光的光軸依次設(shè)置 的至少一個光闌、反應(yīng)容器和透射光電傳感器，所述透射光電傳感器用于檢 測經(jīng)反應(yīng)容器后的透射激光的光強；至少一個散射光電傳感器，所述散射光 電傳感器用于檢測經(jīng)過反應(yīng)容器后的散射光的光強，其中，所述散射光電傳 感器的光學(xué)通道與所述激光的光軸成大于0°且小于180°的夾角。本發(fā)明提 供的光學(xué)系統(tǒng)在實現(xiàn)透射比濁檢測的同時還設(shè)置了至少一個散射光電傳感 器，用于散射比濁檢測，由于散射比濁檢測靈敏度和精密度均較高，因此能 夠彌補透射比濁檢測的缺點。

本發(fā)明還提供一種檢測裝置，包括上述的光學(xué)系統(tǒng)，同樣提高了檢測的 靈敏度和檢測結(jié)果的精密度。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實 施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不 付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種光學(xué)系統(tǒng)的剖面示意圖；

圖2為圖1中沿A-A的截面示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的另一種光學(xué)系統(tǒng)的爆炸結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為圖3所示光學(xué)系統(tǒng)的剖面示意圖；

圖5為本發(fā)明實施例提供的另一種光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)架結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式