[發(fā)明專利]一種帶電納米微粒的制備裝置及制備方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610336947.9
• 申請日: 2016-05-20
• 公開（公告）號: CN107399715B
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金翔;王江濤;柳鵬;魏洋;姜開利;范守善
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué);鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司
• 主分類號: B82B3/00
• 分類號: B82B3/00;B82Y40/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開了一種帶電納米微粒的制備裝置，包括：一霧化裝置、一第一電極以及一第二電極。所述霧化裝置用于對送入該霧化裝置的溶液進(jìn)行霧化，形成微米級的微小液滴。所述第一電極與第二電極平行間隔設(shè)置，該第一電極與第二電極之間存在電壓差；所述第一電極的表面至少設(shè)置有一第一通孔，該第二電極的表面至少設(shè)置有一第二通孔，所述微小液滴經(jīng)由該第一通孔與該第二通孔通過該第一電極與第二電極。利用本發(fā)明提供的方法可以更加高效、簡便、低成本的獲得納米結(jié)構(gòu)表面電荷分布情況。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種帶電納米微粒的制備裝置及制備方法。

背景技術(shù)

納米微粒是一種直徑為納米量級的微觀顆粒，其制備及表征工作是納米材料研究領(lǐng)域中的最基本、最重要的研究工作之一。目前，納米粒子的制備方法很多，根據(jù)不同的分類標(biāo)準(zhǔn)，可以有多種分類方法。 根據(jù)反應(yīng)環(huán)境可分為液相法、氣相法和固相法；根據(jù)反應(yīng)性質(zhì)可分為化學(xué)制備法、化學(xué)物理制備法和物理制備法。不同的制備方法可導(dǎo)致納米粒子的性能以及粒徑各不相同。然而，現(xiàn)有技術(shù)中尚未出現(xiàn)一種可以直接獲得帶電納米微粒且該帶電納米微粒的電性及電量在制備過程中可調(diào)的納米微粒制備裝置及制備方法。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，確有必要提供一種能夠直接制備帶電納米微粒的裝置及方法。

一種帶電納米微粒的制備裝置，包括：一霧化裝置、一第一電極以及一第二電極；所述霧化裝置用于對送入該霧化裝置的溶液進(jìn)行霧化，形成微米級的微小液滴；所述第一電極與第二電極平行間隔設(shè)置，該第一電極與第二電極之間存在電壓差；所述第一電極的表面至少設(shè)置有一第一通孔，該第二電極的表面至少設(shè)置有一第二通孔，所述微小液滴經(jīng)由該第一通孔與該第二通孔通過該第一電極與第二電極。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的帶電納米微粒的制備裝置可以直接獲得帶電納米微粒，且該帶電納米微粒的電性及電量在制備過程中可實(shí)時(shí)調(diào)的。

附圖說明

圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例提供的觀測納米結(jié)構(gòu)表面電荷分布方法流程圖。

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中使用的蒸氣提供裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明實(shí)施例中另一種蒸氣提供裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明實(shí)施例中使用的的光學(xué)顯微鏡及蒸氣提供裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5為利用本發(fā)明第一實(shí)施例提供的觀測方法獲得的超長碳納米管在光學(xué)顯微鏡下的照片。

圖6為圖5中超長碳納米管的掃描電鏡（SEM）照片。

圖7為本發(fā)明第二實(shí)施例提供的測量納米結(jié)構(gòu)表面電荷分布方法示意圖。

圖8為利用本發(fā)明第二實(shí)施例提供的測量方法獲得的超長碳納米管在光學(xué)顯微鏡下的照片。

圖9為本發(fā)明第二實(shí)施例中暗線寬度隨施加電壓變化關(guān)系曲線。

圖10為本發(fā)明第二實(shí)施例中暗線寬度隨絕緣層厚度變化關(guān)系曲線。

圖11為本發(fā)明第三實(shí)施例提供的制備帶電納米微粒的裝置示意圖。

主要元件符號說明