[發明專利]采用濾波、電磁離心分離和相鄰電容的磨損微粒監測裝置在審
| 申請號： | 201610311498.2 | 申請日： | 2016-05-12 |
| 公開（公告）號： | CN105891279A | 公開（公告）日： | 2016-08-24 |
| 發明（設計）人： | 張華芳 | 申請（專利權）人： | 紹興文理學院 |
| 主分類號： | G01N27/24 | 分類號： | G01N27/24 |
| 代理公司： | 紹興市越興專利事務所(普通合伙) 33220 | 代理人： | 蔣衛東 |
| 地址： | 312000 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 采用 濾波 電磁 離心 分離 相鄰 電容 磨損 微粒 監測 裝置 | ||
【說明書】：
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