[發明專利]圓形殼體的壁厚測量裝置與測量方法

在審

• 申請號: 201610258264.6
• 申請日: 2016-04-22
• 公開（公告）號: CN105737746A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 繆建國;唐松;何光武;張春富;何光文
• 申請（專利權）人: 南京晨光集團有限責任公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B17/02
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 王培松;朱顯國

1.一種圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，該壁厚測量裝置包括：

基座；

位于基座上的用于承載被測殼體的旋轉臺，該旋轉臺被設置成可繞其中軸線旋轉；

位于基座上的立柱，該立柱被設置成在一第一安裝位置可轉動地連接到所述基座；

角度調整機構，被設置用于調節立柱相對于基座的角度，該角度調整機構的一端連接在所述立柱上，另一端在一第二安裝位置連接到所述基座；

其中，所述立柱上還設置有可沿立柱縱長方向移動的第一測量臂和第二測量臂，第一測量臂與第二測量臂等長，并且在第一測量臂臨近基座的一端設置第一測距模塊，在第二測量臂臨近基座的一端設置第二測距模塊。

2.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述立柱上設置有沿著縱長方向的豎直導軌，第一測量臂與第二測量臂可沿該豎直導軌在豎直方向移動。

3.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述第一測量臂與第二測量臂之間通過梁連接固定。

4.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述第一測距模塊、第二測距模塊均采用激光測距模塊、超聲測距模塊中的一種。

5.根據權利要求1-4中任意一項所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述立柱被設置成通過鉸鏈連接到所述基座上，該鉸鏈位于所述第一安裝位置。

6.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述角度調整機構包括鉸接到立柱的第一螺桿、鉸接到基座的第二螺桿、套裝在第一螺桿、第二螺桿上的螺套以及操作手柄，該操作手柄被設置成供操作驅動第一螺桿和/或第二螺桿的運動以調整立柱的傾斜角度。

7.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述角度調整機構包括鉸接到立柱的第一連桿、鉸接到基座的第二連桿、驅動第一連桿和/或第一連桿的電機以及用于控制電機運行的控制開關，所述電機被設置成受控制開關的操作控制驅動第一連桿和/或第一連桿運動以調整立柱的傾斜角度。

8.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述回轉臺包括圓盤形本體以及在圓盤形本體徑向上設置的多個支撐架，所述支撐架的外端延伸超出圓盤形本體的外周邊緣。

9.根據權利要求1所述的圓形殼體的壁厚測量裝置，其特征在于，所述基座上還設置有水平導軌，所述回轉臺被設置成可在該水平導軌內沿基座縱長方向水平移動。

10.一種基于前述權利要求1-9中任意一項所述壁厚測量裝置的圓形殼體壁厚測量方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟1、在被測殼體放置在回轉臺上之后，根據被測殼體的類型控制角度調整機構來調整立柱相對基座的角度；

步驟2、使所述第一測量臂和第二測量臂中的一者伸入到被測殼體的內部，另一者位于被測殼體的外部相對的位置；

步驟3、控制所述回轉臺旋轉，所述第一測距模塊與第二測距模塊分別測量其到被測殼體表面的距離，并將測量數據傳輸至一處理終端；

步驟4、處理終端基于第一測距模塊與第二測距模塊的距離以及第一測距模塊與第二測距模塊傳輸的距離數據進行做差處理，得到被測殼體的一橫截面的壁厚。

11.根據權利要求10所述的圓形殼體壁厚測量方法，其特征在于，前述方法更加包含以下步驟：

控制所述第一測量臂和第二測量臂沿著立柱的豎直方向移動使得第一測距模塊與第二測距模塊向下移動到另一橫截面，利用前述步驟3和步驟4的方法得到被測殼體的另一橫截面的壁厚。

12.根據權利要求11所述的圓形殼體壁厚測量方法，其特征在于，前述方法更加包含以下步驟：

建立以被測殼體上端面為原點的橫截面的壁厚數據的柱坐標系。