[發明專利]電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統

有效

• 申請號: 201610244050.3
• 申請日: 2016-04-19
• 公開（公告）號: CN105743483B
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 史衛東;張偉;沈振杰;鄭良紅;潘靜
• 申請（專利權）人: 上海愛矽半導體科技有限公司
• 主分類號: H03K17/96
• 分類號: H03K17/96
• 代理公司: 北京卓唐知識產權代理有限公司 11541
• 代理人: 龔潔

本發明公開了一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統，該判鍵系統包括：電容器，多個所述電容器陣列布置以形成所述觸摸按鍵；多路選通模塊，用于選通至少一個所述電容器；電容檢測模塊，用于檢測被所述多路選通模塊選通部分的電容器的電容值；運算模塊，對所述電容值進行邏輯運算；控制狀態機，對所述多路選通模塊、電容檢測模塊以及運算模塊進行流程控制。本發明提供的電容式觸摸按鍵的判鍵系統，先同時檢測兩個相鄰電容器的電容值，然后再分別單個檢測電容器的電容值，如此通過計算消除寄生電容值，從而避免寄生電容對檢測結果的影響。

技術領域

本發明涉及電容檢測技術，具體涉及一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統。

背景技術

電容式觸摸按鍵廣泛的應用于家電、儀器儀表、工業控制、醫療電子等領域的人機交互界面。電容式觸摸按鍵系統陣列布置有一系列電容器，當使用者通過手指(或等效電容筆等)觸摸按鍵時，相應位置的電容器由于人手的靠近發生電容值變化，通過檢測電容器的電容值實現對手指的觸摸檢測。

現有技術中對電容式觸摸按鍵的觸摸檢測方法為依次逐一對所有的電容器進行檢測，當某個電容器的電容值發生超過閾值的變化時，即判定為相應處被觸摸了。

隨著終端設備功能的復雜化和設備的小型化，使得觸摸面板上的電容器排布的越來越緊密，電容器之間的間距日趨減小，此時，相鄰電容器間的寄生電容隨著電容器之間距離的縮小而變大，寄生電容的數值越大，其對被檢測電容器的干擾越大，較大的寄生電容使得觸摸檢測較易發生誤判，由此，現有技術無法消除寄生電容對觸摸檢測的影響。

發明內容

本發明的目的是提供一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統，以解決現有技術中寄生電容對檢測結果的影響問題。

為了實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，包括以下步驟：

同時選通標的電容器和輔助電容器以檢測獲取第一電容值；

選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值；

根據所述第一電容值和第二電容值計算獲取所述標的電容器的目標電容值；

根據所述目標電容值進行判鍵；

上述步驟中，所述標的電容器和所述輔助電容器相鄰設置，所述輔助電容器為一個或兩個以上。

上述的判鍵方法，所述輔助電容器有一個或多個，所述同時選通標的電容器以及輔助電容器以檢測獲取第一電容值的步驟包括：依次同時選通標的電容器和其中一個輔助電容器以分別檢測獲取一個或兩個以上第一電容值；

所述選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值的步驟包括：依次選通一個或多個所述輔助電容器以分別檢測獲取一個或兩個以上第二電容值。

一種電容式觸摸按鍵的判鍵系統，包括：

電容器，多個所述電容器陣列布置以形成所述觸摸按鍵；

多路選通模塊，用于選通至少一個所述電容器；

電容檢測模塊，用于檢測被所述多路選通模塊選通部分的電容器的電容值；

運算模塊，對所述電容值進行邏輯運算；

控制狀態機，對所述多路選通模塊、電容檢測模塊以及運算模塊進行流程控制。

上述的判鍵系統，所述多路選通模塊為選通電路。

一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，包括以下步驟：

選通輔助電容器以檢測獲取第二電容值；

同時選通標的電容器和所述輔助電容器以檢測獲取第一電容值；