[發(fā)明專利]測量液晶層對入射光的液晶效率的方法

有效

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• 申請日: 2016-04-18
• 公開（公告）號: CN105717674B
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 海博
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

本發(fā)明公開了一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方法，該方法包括：保持液晶層的下偏振片不變，使液晶層的上偏振片和下偏振片處于第一狀態(tài)，第一狀態(tài)是指上偏振片的偏光軸和下偏振片的偏光軸平行的狀態(tài)；在第一狀態(tài)下，控制液晶面板畫面的亮度為0灰階，并測量目標(biāo)位置液晶面板的亮度Lvx；在第一狀態(tài)下，控制液晶面板畫面的亮度為255灰階，并測量目標(biāo)位置液晶面板的亮度Lvy；根據(jù)亮度Lvx和亮度Lvy，確定液晶層對入射光的液晶效率。通過上述方式，本發(fā)明能夠不用拆卸模組，測量次數(shù)少、簡單，且效率和準(zhǔn)確度均很高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方法。

背景技術(shù)

目前常用的液晶面板顯示模式主要包括扭曲向列相模式(Twisted Nematic，簡寫TN)、垂直取向模式(Vertical Alignment，簡寫VA)，共面開關(guān)模式(In Plain Switching，簡寫IPS)。

以VA模式為例：VA顯示是一種垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片的偏光軸垂直偏貼。VA液晶顯示的原理基于液晶的透光率隨其所施電壓的大小而變化的特性。當(dāng)光通過下基板(即TFT基板)偏振片后，變成線性偏振光，偏振方向與下偏振片偏光軸的方向一致。在不加電壓時(shí)，光線經(jīng)過液晶不會(huì)發(fā)生偏振方向的改變。經(jīng)過上基板(即CF基板)偏光片，光線被吸收，因而為黑態(tài)。當(dāng)加上電壓以后，液晶在電場作用下沿配向方向發(fā)生偏轉(zhuǎn)。當(dāng)光通過液晶層時(shí)，由于受液晶折射，線性偏振光被分解為兩束光。又由于這兩束光傳播速度不同，因而當(dāng)兩束光合成后，必然使偏振光的偏振方向發(fā)生變化。當(dāng)入射光達(dá)到上基板偏振片時(shí)，與下偏振片的偏光軸方向平行的光線可以通過，因而為亮態(tài)。在整個(gè)顯示過程中，液晶起到一個(gè)電壓控制的光閥作用。可見液晶對線偏振光的偏振方向的偏轉(zhuǎn)能力非常重要，它直接影響了穿透率結(jié)果。

液晶層對入射光的液晶效率定義為：經(jīng)過下偏光片產(chǎn)生的與下偏光片偏光軸方向平行的偏振光，在最大灰階下，排除液晶材料吸收因素，經(jīng)過液晶層后，液晶層能將多大比例的入射光的偏振方向旋轉(zhuǎn)90度，從而與上偏光片偏光軸平行，使光線穿透出去。現(xiàn)有技術(shù)中，常規(guī)的液晶效率的測量方法是：多次測量液晶面板穿透率，通過計(jì)算排除其他影響穿透率的因素，最終計(jì)算出液晶效率。但是，這種方法測量次數(shù)多，測量過程中變異較多，且做了近似處理，所以效率和準(zhǔn)確度均偏低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方法，能夠不用拆卸模組，測量次數(shù)少、簡單，且效率和準(zhǔn)確度均很高。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方法，所述方法包括：保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處于第一狀態(tài)，所述第一狀態(tài)是指所述上偏振片的偏光軸和所述下偏振片的偏光軸平行的狀態(tài)；在所述第一狀態(tài)下，控制液晶面板畫面的亮度為0灰階，并測量目標(biāo)位置所述液晶面板的亮度Lvx；在所述第一狀態(tài)下，控制液晶面板畫面的亮度為255灰階，并測量所述目標(biāo)位置所述液晶面板的亮度Lvy；根據(jù)所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，確定所述液晶層對入射光的液晶效率。

其中，所述液晶層對入射光的液晶效率A為：

其中，所述保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處于第一狀態(tài)的步驟之前，包括：使所述液晶層的所述上偏振片和所述下偏振片處于第二狀態(tài)，所述第二狀態(tài)是指所述上偏振片的偏光軸和所述下偏振片的偏光軸垂直的狀態(tài)；在所述第二狀態(tài)下，控制液晶面板畫面的亮度為0灰階，并測量所述目標(biāo)位置所述液晶面板的亮度Lvz；所述根據(jù)所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，確定所述液晶層對入射光的液晶效率的步驟，包括：根據(jù)所述亮度Lvx、所述亮度Lvy以及所述亮度Lvz，確定所述液晶層對入射光的液晶效率。

其中，所述液晶層對入射光的液晶效率B為：