[發(fā)明專利]一種脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610221120.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-04-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105759198B | 公開(公告)日: | 2018-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙雯;郭曉強(qiáng);陳偉;郭紅霞;丁李利;陳榮梅;王園明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西北核技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/308 | 分類號(hào): | G01R31/308 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 楊亞婷 |
| 地址: | 71002*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單粒子效應(yīng) 脈寬調(diào)制器 時(shí)間敏感 激光脈沖 特性分析 敏感參數(shù) 入射位置 入射 地面模擬試驗(yàn) 數(shù)模混合電路 時(shí)間敏感性 可控掃描 失效模式 特性研究 重離子 遍歷 掃描 補(bǔ)充 支撐 分析 | ||
1.一種脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,其特征在于:該方法包括以下步驟:
1)對(duì)樣品的整體版圖進(jìn)行激光脈沖的遍歷式掃描,獲取飽和截面σS和飽和截面所對(duì)應(yīng)的激光脈沖能量ES;
選取初始激光脈沖能量E0,使激光微束聚焦在樣品的版圖表面,對(duì)樣品的整體版圖進(jìn)行激光脈沖的遍歷式掃描,統(tǒng)計(jì)單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤數(shù)N0和激光脈沖數(shù)F0,并計(jì)算出單粒子效應(yīng)截面σ0;繼續(xù)增大激光脈沖能量直至樣品的單粒子效應(yīng)截面不再增大,此時(shí)激光脈沖能量為ES,單粒子效應(yīng)截面為σS;
2)對(duì)步驟1)樣品的各功能模塊進(jìn)行激光脈沖的遍歷式掃描,提取各功能模塊的單粒子效應(yīng)敏感參數(shù),選取各功能模塊的典型入射位置;
選取激光脈沖能量為ES,針對(duì)步驟1)樣品的各功能模塊,分別進(jìn)行激光脈沖的遍歷式掃描,通過定時(shí)存取示波器波形來獲取每個(gè)功能模塊的單粒子效應(yīng)波形,分別分析每個(gè)功能模塊的波形數(shù)據(jù)得到每個(gè)功能模塊的單粒子效應(yīng)失效模式,提取單粒子效應(yīng)敏感參數(shù),在每個(gè)功能模塊所有的激光脈沖入射位置中,均選取單粒子效應(yīng)敏感參數(shù)變化明顯的一個(gè)位置作為典型入射位置;
3)對(duì)步驟2)各功能模塊的典型入射位置,讓激光脈沖以不同時(shí)刻入射,獲取各功能模塊的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感性信息;
選取激光脈沖能量為ES,針對(duì)各功能模塊的典型入射位置,讓激光脈沖以一定入射周期入射,通過定時(shí)存取示波器波形來獲取激光脈沖在不同時(shí)刻入射所產(chǎn)生的單粒子效應(yīng)波形,通過波形的對(duì)比分析來獲取各功能模塊的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感性信息;
4)歸納總結(jié)各功能模塊的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感性信息,獲取脈寬調(diào)制器的單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,其特征在于:
所述步驟1)中激光脈沖的遍歷式掃描是利用控制軟件依次設(shè)置掃描區(qū)域、掃描步長(zhǎng)s、載物臺(tái)移動(dòng)速度v來實(shí)現(xiàn),s/v為激光脈沖入射周期;單粒子效應(yīng)截面的計(jì)算采用如下公式:
σ=N/F
其中:σ是單粒子效應(yīng)截面;N是單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤數(shù),F(xiàn)為激光脈沖數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,其特征在于:
所述步驟2)中各功能模塊劃分的實(shí)現(xiàn):
根據(jù)脈寬調(diào)制器的電路原理圖對(duì)芯片版圖進(jìn)行解剖分析,獲取各功能模塊在版圖中的相應(yīng)位置,所述原理圖包含各功能模塊及相互之間的電學(xué)連接關(guān)系。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,其特征在于:
所述步驟2)中定時(shí)存取示波器波形的具體實(shí)現(xiàn)過程:
首先,設(shè)置示波器的觸發(fā)方式為脈寬調(diào)制器輸出信號(hào)的脈寬觸發(fā),脈寬持續(xù)時(shí)間超過設(shè)定范圍即觸發(fā);
其次,通過示波器控制軟件來設(shè)置定時(shí)存取示波器波形的時(shí)間間隔,時(shí)間間隔小于激光脈沖入射周期,讓計(jì)算機(jī)以該固定的時(shí)間間隔讀取示波器的波形并保存。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈寬調(diào)制器單粒子效應(yīng)時(shí)間敏感特性分析方法,其特征在于:
所述步驟2)中單粒子效應(yīng)失效模式分析和敏感參數(shù)提取的具體實(shí)現(xiàn)過程:
首先,結(jié)合各功能模塊的單粒子效應(yīng)波形及各模塊在樣品整體電路功能中所發(fā)揮的作用,分析各功能模塊的單粒子效應(yīng)失效模式;
其次,根據(jù)各功能模塊的單粒子效應(yīng)失效模式和單粒子效應(yīng)波形變化特點(diǎn),從各被測(cè)信號(hào)中篩選出各功能模塊的單粒子效應(yīng)敏感參數(shù)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
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