[發(fā)明專利]一種基于偏微分方程的納米顆粒尺寸測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610213715.4 | 申請日: | 2016-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN105931277B | 公開(公告)日: | 2019-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張芳;肖志濤;王萌;耿磊;吳駿;王雯;陳穎 | 申請(專利權(quán))人: | 天津工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G06T7/60 | 分類號: | G06T7/60;G06T5/00;G06T7/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300387 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 微分方程 納米 顆粒 尺寸 測量方法 | ||
【權(quán)利要求書】:
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