[發(fā)明專利]光纖端面干涉儀夾緊判斷裝置及判斷方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610189403.4
• 申請日: 2016-03-29
• 公開（公告）號: CN105675259B
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發(fā)明（設計）人: 汪凱巍
• 申請（專利權）人: 杭州維勘科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 邱啟旺

本發(fā)明公開了一種光纖端面干涉儀夾緊判斷裝置及判斷方法，所述光纖端面干涉儀具有夾緊扳手，包括光源、第一光電探測器、第二光電探測器、濾光片、信號處理電路、固定臺、單片機；其中光源、第一光電探測器、第二光電探測器均安裝在固定臺上；第一光電探測器和第二光電探測器上均安裝有濾光片，濾光片用于濾除光源波長以外的雜光；夾緊扳手夾緊時，其上的反射面將光源發(fā)出的光反射到第一探測器或第二探測器上；所述光源、第一光電探測器和第二光電探測器均與信號處理電路相連；所述信號處理電路與單片機相連。本發(fā)明由于采用光電傳感器，其響應時間在0.1s以內(nèi)，可以快速地判斷被測件處于夾緊或松弛狀態(tài)；具有測試效率高、抗干擾性強和造價低廉等特點。

技術領域

本發(fā)明涉及光通信技術、干涉測量、表面幾何參數(shù)測量領域，尤其涉及一種光纖端面干涉儀夾緊判斷裝置及判斷方法。

背景技術

光纖端面干涉法是國際電工委員會（IEC）以及Telcordia規(guī)定的光纖連接器端面的標準測試手段，國際上已有多家公司開發(fā)出相應的測試儀器，可以達到橫向微米級以及縱向納米級的測量精度。這種高精密儀器廣泛用于光纖跳線、尾纖、PLC分路器等含有光纖連接器的光無源器件。這些器件的全球年需求量達到了上億只以上的規(guī)模，通過干涉儀測量并達到國際標準的連接器，其插入和回波損耗以及互換性都能達到最好的狀態(tài)。因此，光纖端面干涉儀是生產(chǎn)高質(zhì)量光無源器件的檢測設備。

然而，當用戶的測試量很大時，現(xiàn)有設備的缺點是裝夾所占時間較長，影響了測試效率，用戶在測試過程中需要插拔被測連接器、鎖定被測件以及用鼠標或鍵盤啟動測量程序三個動作，無法用兩只手同時完成，因而從總體上導致測試速度較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種光纖端面干涉儀夾緊判斷裝置及判斷方法，使得用戶只需一只手負責插拔被測連接器、另一只手負責鎖緊和松開被測件，系統(tǒng)自動判斷器件是否已經(jīng)鎖緊，若被測件已經(jīng)鎖緊，則自動啟動測量，從而使裝夾工作簡單化，提升用戶的使用滿意度。

本發(fā)明的目的是通過以下技術方案實現(xiàn)的：一種光纖端面干涉儀夾緊判斷裝置，所述光纖端面干涉儀具有夾緊扳手，包括光源、第一光電探測器、第二光電探測器、濾光片、信號處理電路、固定臺、單片機；其中，所述光源、第一光電探測器、第二光電探測器均安裝在固定臺上；所述第一光電探測器和第二光電探測器上均安裝有濾光片，濾光片用于濾除光源波長以外的雜光；夾緊扳手夾緊時，其上的反射面將光源發(fā)出的光反射到第一探測器或第二探測器上；所述光源、第一光電探測器和第二光電探測器均與信號處理電路相連；所述信號處理電路與單片機相連。

一種利用上述裝置進行光纖端面干涉儀夾緊判斷的方法，包括以下步驟：

當夾緊扳手處于夾緊狀態(tài)時，夾緊扳手上的反射面將光源發(fā)出的光反射到第一探測器或第二探測器上，從而使得第一探測器或第二探測器產(chǎn)生光生電流，該光生電流被信號處理電路放大整形后觸發(fā)單片機產(chǎn)生“夾緊”信號，說明被測件已經(jīng)被夾緊；

當夾緊扳手處于松弛狀態(tài)時，光源發(fā)射的光無法被有效地反射到第一探測器或第二探測器上，從而無法產(chǎn)生光電流，該信號處理電路接收不到光電流，不能觸發(fā)單片機產(chǎn)生“夾緊”信號，從而說明被測件未被夾緊。

本發(fā)明的有益效果是：

1、快速判斷夾緊：由于采用光電傳感器，其響應時間在0.1s以內(nèi)，可以快速地判斷被測件處于夾緊或松弛狀態(tài)。

2、提高測試效率：由于被測件的夾緊和松開狀態(tài)可以由該裝置自動判斷，經(jīng)單片機采集信號后反饋給測試軟件，用戶無需點擊測試按鈕即可由軟件自動啟動測量，每個測試件可節(jié)約2s的時間。按照每天測試5000只的數(shù)量而言，總共可以節(jié)約測試時間2.8小時，在同樣的時間內(nèi)，每天可多測試1000只跳線，調(diào)高測試效率達20%。