[發(fā)明專利]一種電源模塊專用的測(cè)試治具在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610129961.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105785279A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙鴻憲;張曉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40 |
| 代理公司: | 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100 | 代理人: | 姜明 |
| 地址: | 250101 山東*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電源模塊 專用 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及服務(wù)器電源技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電源模塊專用的測(cè)試治具。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的服務(wù)器設(shè)計(jì)中,大型的服務(wù)器很多主板都是直接與電源模塊相連接的。也就是說(shuō),主板與電源模塊之間沒(méi)有通過(guò)電源背框轉(zhuǎn)接。這種情況下,一旦電源模塊出現(xiàn)異常,將直接對(duì)主板造成傷害,甚至損壞主板上的CPU與內(nèi)存等配套硬件,這些損失都是十分巨大的。
一般電源模塊都是單獨(dú)供貨,并沒(méi)有攜帶框體。而如果在服務(wù)器機(jī)箱組裝前就可以模擬電源模塊應(yīng)用在主板上的壞境,測(cè)試電源模塊的性能與穩(wěn)定性,就可以避免損失,提高服務(wù)器使用效益。因此,開(kāi)發(fā)一種連接電源模塊與電源測(cè)試儀的治具,成為技術(shù)人員亟待解決的問(wèn)題。
基于此,本發(fā)明提出了一種電源模塊專用的測(cè)試治具。該電源模塊專用的測(cè)試治具,不僅能夠起到電源框體的作用,還更加接近電源模塊應(yīng)用于主板時(shí)的環(huán)境。另外由于該電源模塊專用的測(cè)試治具可以保證電源模塊測(cè)量時(shí)表面裸露在空氣中,方便模塊SN的掃描,不但可以保證整個(gè)測(cè)試過(guò)程中電源模塊不斷電,提高性能檢驗(yàn)的準(zhǔn)確性,而且還可以提高工人檢驗(yàn)電源模塊的效率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供了一種簡(jiǎn)單高效的電源模塊專用的測(cè)試治具。
本發(fā)明是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種電源模塊專用的測(cè)試治具,其特征在于:板卡上包括兩個(gè)電源模塊和輸出端子,所述兩個(gè)電源模塊并聯(lián)接入板卡,各電源模塊輸出信號(hào)引入板卡后,引出測(cè)試電源性能所需要的信號(hào)組成輸出端子,通過(guò)輸出端子連接到電源測(cè)試儀,不用的信號(hào)則連電阻做接地處理。
所述電源模塊連接交流電源,所述電源模塊輸出信號(hào)包括12V,12VRS+,12VRS-,SGND,SDA,SCL,12VSB,PS-ON,PWOK,PSKILL,SMART-ON,PRESENT和SMBAlter;所述輸出端子包括1個(gè)PMBUS端子,1個(gè)24pin端子,2個(gè)8pin端子和2個(gè)4pin端子;所述電源模塊輸出信號(hào)中,12V分別做了不同引出點(diǎn),分別定為12V1,12V2,12V3,12V4,12V5和12V6。
所述電源模塊輸出信號(hào)中,SCL,SDA與SMBAlter是PMBUS端子所需要信號(hào)直接引出,SMART-ON,PRESENT和PSKILL直接接地;PWOK,PS-ON,12VSB為24pin端子輸出所用信號(hào);12V1和12V2分別連接到2個(gè)8pin端子,12V3連接到4pin端子,12VRS+,12VRS-,12V4,12V5和12V6連接到24pin端子。
所述PMBUS端子包括5個(gè)pin腳,其中pin1,pin2和pin3分別連接SCL,SDA和SMBAlter。
所述12VSB,PWOK和PS-ON分別連接24pin端子的pin4,pin5和pin21;12V4連接到pin14,pin15和pin16,12V5連接到pin11,pin12和pin24,12V6連接到pin1,pin2,pin7和pin9;pin3接12V/12VRS+,pin10接GND/12VRS-,pin17和pin23懸空,其余pin腳接地。
所述12V1和12V2分別接8pin端子的pin5,pin6,pin7和pin8,其余pin腳接地。
所述12V3接4pin端子的pin3和pin4,其余pin腳接地。
為了防止兩個(gè)電源模塊的PWOK信號(hào)并聯(lián)在一起而造成電流反灌,影響測(cè)試,所述兩個(gè)電源模塊的PWOK信號(hào)接二極管然后并聯(lián)一起作為輸出點(diǎn)。
為了匹配電源模塊中電容,消除紋波,所述12V1和12V2分別通過(guò)470uF的電容接SGND;所述SMBAlter和PS-ON分別通過(guò)1NF的電容接SGND,所述SMART-ON和PWOK分別通過(guò)47.5K的電阻接SGND,所述PRESENT和PSKILL分別通過(guò)0R電阻接SGND;所述SDA和SCL不接SGND。
本發(fā)明的有益效果是:該電源模塊專用的測(cè)試治具,可以模擬單電源模塊供電和雙電源模塊供電兩種模式在主板上的工作環(huán)境,支持電源模塊和輸出端子的插拔,接觸性更加優(yōu)良,測(cè)試更加方便、快捷、準(zhǔn)確,且由于電源模塊裸露于空氣中,方便掃碼記錄,提高了電源模塊測(cè)試效率。
附圖說(shuō)明
附圖1為本發(fā)明電源模塊輸出在板卡上的信號(hào)示意圖。
附圖2為本發(fā)明12V和12VSB板卡電路設(shè)計(jì)示意圖。
附圖3為本發(fā)明板卡電路設(shè)計(jì)示意圖。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司,未經(jīng)浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610129961.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





