[發明專利]一種根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態的方法

在審

• 申請號: 201610128710.1
• 申請日: 2016-03-07
• 公開（公告）號: CN105785171A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 胡軍;何金良;鄔錦波;陳水明
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 重慶百潤洪知識產權代理有限公司 50219
• 代理人: 劉立春

1.一種根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態的方法，其特 征在于，判斷步驟為：

對運行中的高壓避雷器或低壓系統的沖擊保護裝置(SPD)內的ZnO壓敏電阻閥 片的泄漏電流進行監測；

對單位時間內泄漏電流進行采樣并記錄其波形數據；

對采集到的泄漏電流波形進行傅里葉變換，得到泄漏電流中基波電流幅值、各 奇次諧波電流的幅值；

計算得到各奇次諧波電流與基波電流幅值的比值，作為壓敏電阻老化狀態的判 斷依據；

記錄各奇次諧波電流與基波電流的比值α3、α5、α7....αn。

2.根據權利要求1的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，當各奇次諧波電流與基波電流的比值α3～n﹤30％時，ZnO 壓敏電阻片性能良好，說明芯片未出現老化現象。

3.根據權利要求1的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，當各奇次諧波電流與基波電流的比值30％<α3～n<70％且 隨時間迅速增加時，ZnO壓敏電阻片性能下降，說明閥片進入加速老化階段。

4.根據權利要求1的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，當各奇次諧波電流與基波電流的比值αn-2>70％且αn-2> αn時，ZnO壓敏電阻片性能進一步下降，說明閥片已經嚴重老化。

5.根據權利要求1的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，監測泄漏電流為連續檢測。

6.根據權利要求1的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，計算得到的奇次諧波電流為連續奇次諧波電流，計算得 到的奇次諧波電流不小于9次。

7.根據權利要求3的根據泄漏電流高次諧波特性判斷ZnO壓敏電阻片老化狀態 的方法，其特征在于，所述當各奇次諧波電流與基波電流的比值隨迅速增加為 在3次內增加40％。