[發明專利]一種單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器有效
| 申請號: | 201610125818.5 | 申請日: | 2016-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN105549154B | 公開(公告)日: | 2019-05-10 |
| 發明(設計)人: | 畢磊;稅科弋;鄧龍江 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | G02B6/27 | 分類號: | G02B6/27 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 張楊 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 單向 磁化 半導體 波導 集成 干涉 隔離器 | ||
1.一種單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器,由依次連接的單模波導單元、多模波導單元和單模波導單元組成,其特征在于:所述隔離器各波導單元中的波導均采用同一片SOI基片的SiO2層作為底層,即低折射率層;隔離器的外加磁場方向垂直于光波導中光傳播方向;多模波導的寬度和單模波導一致;
單模波導單元,由至少一個單模波導構成;單模波導從上到下依次為:厚度2um-3um的低折射率層、厚度400nm-700nm的半導體波導薄膜層和厚度2um-3um的低折射率層,且支持單模光傳輸;最下層的低折射率層寬度不小于500nm,其他各層的寬度為500nm;
多模波導單元由至少一個第一多模波導和/或第二多模波導構成;
第一多模波導從上到下依次為:厚度2um-3um的低折射率層、厚度200-350nm的磁光薄膜層、厚度400nm-600nm的半導體波導薄膜層和厚度2um-3um的低折射率層,且在垂直于薄膜表面方向上存在兩個或以上的模式傳播;波導最下層的低折射率層寬度不小于500nm,其他各層的寬度為500nm;
第二多模波導從上到下依次為:厚度2um-3um的低折射率層、厚度100nm-300nm的半導體波導層、厚度200-300nm的磁光薄膜層、厚度100nm-300nm的半導體波導薄膜結構層和厚度2um-3um的低折射率層,且在垂直于薄膜表面方向上支持兩個或以上的模式傳播;波導最下層的低折射率層寬度不小于500nm,其他各層的寬度為500nm。
2.如權利要求1所述單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器,其特征在于:所述磁光薄膜層采用釔鐵石榴石YIG、鈰摻雜釔鐵石榴石Ce:YIG、鉍摻雜釔鐵石榴石Bi:YIG、稀土離子摻雜釔鐵石榴石Re:YIG、Fe3O4、Fe2O3或CoFe2O4制備,且至少一層。
3.如權利要求1所述單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器,其特征在于:所述最上層的低折射率層選用空氣。
4.如權利要求1所述單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器,其特征在于:光波會依次經過單模波導單元、多模波導單元和單模波導單元,其正向傳輸和反向傳輸不同模式的干涉模場分布不同,具有單向傳輸,反向隔離的特性。
5.如權利要求1-3任一所述單向磁化半導體波導集成多模干涉磁光隔離器,其特征在于:多個隔離器之間通過串聯的連接方式進行使用,且各隔離器的最底層即低折射率層均采用同一片SOI基片作為底層。
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