[發明專利]一種SF6分解氣體的檢測方法

在審

• 申請號: 201610117038.6
• 申請日: 2016-03-02
• 公開（公告）號: CN105738186A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 趙鋒;胡雪;霍明霞;王坤
• 申請（專利權）人: 國網河南省電力公司濟源供電公司
• 主分類號: G01N1/34
• 分類號: G01N1/34;G01N1/40
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及電工測量及檢測技術領域，尤其涉及一種SF6分解氣體的檢測方法。

背景技術

SF6是一種優良的絕緣介質和滅弧介質，它具有無毒、不可燃、絕緣強度高和滅弧能力遠遠超過一般電介質的特點，在均勻電場中SF6氣體的絕緣強度為氣壓相同的空氣的2、5倍左右，同時SF6氣體的滅弧能力為空氣的數十倍。隨著電力需求量的不斷增長和環境保護日益受到人們的關注，SF6氣體也越來越多的應用于高壓電器設備中，尤其用作氣體絕緣開關裝置中。但是如果氣體絕緣開關裝置內部發生放電故障，故障區域的SF6氣體和固體絕緣材料在熱和電的作用下將分解生成一些有害的低氟化物，這些物質反應能力極強。當遇到水分和氧時，這些產物又會與電極材料、水分等進一步反應，生成多種化合物(SO2F2、SOF2、SO2、H2S、HF等)。這些分解氣體大多具有毒性或腐蝕性，極易危及設備的使用壽命和工作人員的安全,但是常規的色譜方法難以對分解氣體進行分析檢測，主要原因為：一方面因為六氟化硫分解氣體的含量很低(零到幾十個ppm)；另一方面有的分解氣體(如SO2F2)與SF6氣體的性質極為接近，在氣相色譜儀中保留時間相差不多，其色譜峰易被SF6本底掩蓋。這樣帶來的問題是：受各種因素或條件的影響，分析檢測設備的精度提高有限，且成本大大增長。所以如何提高分析樣品的濃度以及分離出具體每樣成分的濃度、使現有分析檢測設備能夠進行準確分析檢測，就成為本領域亟待解決的技術難題。

發明內容

本發明的目的是要提供一種富集效果好，分離精準的SF6分解氣體的檢測方法。

為達到上述目的，本發明是按照以下技術方案實施的：一種SF6分解氣體的檢測方法，采用以下步驟：

1）、將設有入口和出口的氣室至于可控溫的冷阱中，所述的入口和出口均設有閥門；

2）、氣室內設置液體吸附劑；

3）、將冷阱溫度設置在略高于SF6氣體沸點的溫度；

4）、打開入口和出口的閥門，通入待采樣氣體，此時，SF6氣體通過出口被收集或吸收，SF6分解氣體呈液態被富集在氣室內的吸附劑上；

5）、冷阱溫度設置為略高于SF6分解氣體中最低沸點的一種氣體的沸點，同時入口通入氮氣，出口通過收集袋收集排出的氣體；

6）、重復步驟5），根據SF6分解氣體中各氣體的沸點的不同從低到高依次設置冷阱溫度，同時在入口通入氮氣，出口處每次分別用不同的收集袋進行收集。

7）、針對不同的收集袋所收集到的氣體進行濃度分析，最終得到SF6分解氣體的類型構成和比例。

進一步，所述的吸附劑為PorapakQ或分子篩或硅膠。

進一步，所述的吸附劑的目數50/80、80/100、100/120的一種或幾種的混合物。

進一步，所述的可控溫冷阱的溫度控制范圍為-65℃—50℃。

進一步，所述的冷阱的入口和出口均設有流量計。

進一步，將收集袋置于冷阱中，冷阱溫度設置為高于氮氣沸點低于收集袋中對應的SF6分解氣體的沸點。

與現有技術相比，本發明的有益效果為：

1、先除去SF6及其分解氣體中的SF6氣體，避免后續對樣品的干擾；

2、可將富集后的SF6分解氣體進一步分離，對分析檢測設備的精度要求低，分析更加精確。

具體實施方式

下面結合具體實施例對本發明作進一步描述，在此發明的示意性實施例以及說明用來解釋本發明，但并不作為對本發明的限定。

本發明主要根據下表SF6及其分解氣體的沸點不同，進行SF6及其分解氣體的富集和分離。

一種SF6分解氣體的檢測方法，根據上表所列舉的SF6及其分解氣體的沸點在步驟中進行冷阱溫度的設置，采用以下步驟：

1）、將設有入口和出口的氣室至于可控溫的冷阱中，所述的入口和出口均設有閥門；

2）、氣室內設置液體吸附劑；

3）、將冷阱溫度設置在略高于SF6氣體沸點的溫度；

4）、打開入口和出口的閥門，通入待采樣氣體，此時，SF6氣體通過出口被收集或吸收，SF6分解氣體呈液態被富集在氣室內的吸附劑上；

5）、冷阱溫度設置為略高于SF6分解氣體中最低沸點的一種氣體的沸點，同時入口通入氮氣，出口通過收集袋收集排出的氣體；

6）、重復步驟5），根據SF6分解氣體中各氣體的沸點的不同從低到高依次設置冷阱溫度，同時在入口通入氮氣，出口處每次分別用不同的收集袋進行收集；