[發(fā)明專利]一種光學電流測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610109523.9
• 申請日: 2016-02-25
• 公開（公告）號: CN105548664B
• 公開（公告）日: 2019-09-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李泉;凌清;張韋;王克銀
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇思源赫茲互感器有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫

1.一種光學電流測量裝置，其特征在于，包括傳感頭系統(tǒng)、動態(tài)校正系統(tǒng)、光電解調(diào)系統(tǒng)和光纖分支器(7)；

所述傳感頭系統(tǒng)包括一個或多個晶體光閥磁場傳感器(1)、一個或多個螺線管(2)、P1電流端子(3)和P2電流端子(4)，所述晶體光閥磁場傳感器(1)固定于所述螺線管(2)內(nèi)，且與所述螺線管(2)同軸設(shè)置，所述晶體光閥磁場傳感器(1)的長度小于所述螺線管(2)的長度，所述螺線管(2)為一個時，所述P1電流端子(3)和P2電流端子(4)由螺線管(2)兩端引出，或所述螺線管(2)為多個時，所述螺線管(2)之間通過金屬導線順序連接，順序連接的第一個螺線管引出P1電流端子(3)，順序連接的最后一個螺線管引出P2電流端子(4)，所述晶體光閥磁場傳感器(1)的兩端通過光纖與所述光纖分支器(7)下行光接口連接，所述晶體光閥磁場傳感器(1)與所述螺線管(2)的數(shù)量相同且一一對應(yīng)；

所述動態(tài)校正系統(tǒng)通過光纖與所述光纖分支器(7)的下行光接口連接，所述動態(tài)校正系統(tǒng)用于將光信號轉(zhuǎn)化為電流，進而在晶體光閥磁場傳感器(1)外側(cè)形成參考磁場，所述晶體光閥磁場傳感器(1)同時檢測到參考磁場和所述螺線管(2)產(chǎn)生的被測磁場；所述動態(tài)校正系統(tǒng)包括光電校準器(5)和參考線圈(6)，所述光電校準器(6)與所述光纖分支器(7)的下行光接口連接，所述參考線圈(6)置于所述螺線管(2)內(nèi)；所述參考線圈(6)與所述晶體光閥磁場傳感器(1)的數(shù)量相同且一一對應(yīng)，所述參考線圈(6)之間通過金屬導線順序連接；

所述光電解調(diào)系統(tǒng)包括光源(8)和光電解調(diào)單元(9)，所述光電解調(diào)系統(tǒng)通過光纜(10)與所述光纖分支器(7)上行光接口連接，所述光源(8)發(fā)出恒定的第一光信號、第二光信號和第三光信號，所述第一光信號和第二光信號組成差分雙光路，所述第一光信號和第二光信號通過所述光纖分支器(7)傳輸?shù)剿鼍w光閥磁場傳感器(1)，所述第三光信號通過所述光纖分支器(7)傳輸?shù)剿鰟討B(tài)校正系統(tǒng)，所述晶體光閥磁場傳感器(1)所感應(yīng)的被測電流的磁場信號通過光纖分支器(7)傳回所述光電解調(diào)系統(tǒng)，所述光電解調(diào)系統(tǒng)將反饋回的光信號轉(zhuǎn)換成電信號，并進行解調(diào)，計算出被測電流。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學電流測量裝置，其特征在于，所述多個螺線管(2)平行澆筑成一體。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學電流測量裝置，其特征在于，所述第一光信號的波長為1400-1600nm；所述第二光信號的波長為1350-1550nm；所述第三光信號的波長為850-1050nm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的一種光學電流測量裝置，其特征在于，所述光源是激光器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學電流測量裝置，其特征在于，所述光電解調(diào)系統(tǒng)測出的電流數(shù)據(jù)以IEC61850標準協(xié)議格式打包，發(fā)送至下級合并單元。