[發明專利]用于液晶屏表面凹凸點的檢測方法及光源裝置

有效

• 申請號: 201610087581.6
• 申請日: 2016-02-16
• 公開（公告）號: CN105589227B
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發明（設計）人: 韓楠;姚毅
• 申請（專利權）人: 凌云光技術集團有限責任公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本發明實施例公開了一種用于液晶屏表面凹凸點的檢測方法及光源裝置。所述檢測方法包括將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上；利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域；在條形照射區域的另一側設置掃描相機，掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于條形照射區域的中心線垂面臨界對稱；條形照射區域的中心線垂面與條形照射區域的長邊方向平行；光源裝置沿待檢測液晶屏長邊方向勻速移動，條形照射區域的長度遠大于待檢測液晶屏的寬度；掃描相機與光源裝置同步移動并對光源裝置照射到的條形照射區域進行圖像采集；若采集到的圖像中存在半明半暗區域，則確定待檢測液晶屏表面存在凹凸點。

技術領域

本發明涉及液晶顯示屏檢測設備技術領域，具體涉及一種用于液晶屏表面凹凸點檢測的檢測方法及用于該檢測方法的光源裝置。

背景技術

液晶屏的結構通常包括液晶玻璃片和兩片偏光片。對于平放狀態的液晶玻璃片，一片偏光片緊貼在液晶玻璃的上表面，另一片緊貼在液晶玻璃的下表面。在液晶屏的生產過程中，將偏光片貼合于液晶玻璃片的過程中，由于生產工藝或人為原因會造成偏光片的表面劃傷、或者在偏光片的表面上形成凹坑或凸點。在液晶屏的質量檢測過程中，需要將表面具有劃痕、凹坑或凸點的液晶屏進行剔揀。

在現有液晶屏表面檢測中，對于液晶屏表面是否存在劃痕、凹坑和凸點的檢測方法是通過光源裝置對液晶屏的表面進行照射，同時采用圖像采集裝置對液晶屏的表面進行成像，若采集到的液晶屏圖像的表面存在半明半暗點或劃痕，則說明該液晶屏表面存在瑕疵。

但現有液晶屏表面檢測過程中使用的光源裝置為小型LED按矩陣的方式緊密排列構成的光源裝置，該種光源裝置由于包括按矩陣排列的多個發光源，因此光源裝置發出光線的角度各不相同。利用上述光源裝置對液晶屏表面進行照射時，光源裝置發射出的不同方向的光線對液晶屏表面上的劃痕、凸點或凹坑可實現補償照明，導致凸點、凹坑或劃痕與液晶屏正常表面無法有效區分，在浪費較多光能的同時檢測精度較低。

發明內容

本發明的發明目的在于提供一種液晶屏表面凹凸點的檢測方法及適用于該檢測方法的光源裝置，該光源裝置能夠約束光源裝置發出光線的角度，避免在照射液晶屏表面時對液晶屏表面上的劃痕、凸點或凹坑進行補償照明，能夠準確的檢測出液晶屏中的凹凸點，提高液晶屏表面凹凸點檢測方法的檢測精度。

根據本發明的實施例，提供了一種液晶屏表面檢測凹凸點的檢測方法，包括：

將待檢測液晶屏平鋪于檢測臺上；

利用視場角為5°的平行光束傾斜照射于待檢測液晶屏的表面，在所述待檢測液晶屏表面呈現出條形照射區域；

在所述條形照射區域的另一側設置掃描相機，所述掃描相機的鏡頭與發出平行光束的光源裝置關于所述條形照射區域的中心線垂面臨界對稱；所述條形照射區域的中心線垂面與所述條形照射區域的長邊方向平行；

所述光源裝置沿所述待檢測液晶屏長度方向勻速移動，所述條形照射區域的長度遠大于所述待檢測液晶屏的寬度；

所述掃描相機與所述光源裝置同步移動并對所述光源裝置照射到的條形照射區域進行圖像采集；

若采集到的圖像中存在半明半暗區域，則確定所述待檢測液晶屏表面存在凹凸點。

其中，所述平行光束與所述待檢測液晶屏表面的法線夾角大于0度小于等于30度。

根據本發明的另一方面，還提供了一種用于液晶屏表面凹凸點檢測的光源裝置，包括：

包括具有第一端部和第二端部的殼體，第一端部的中軸線與第二端部的中軸線重合，第一端部設有出光口，第二端部內側安裝有點光源；