[發明專利]基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法

有效

• 申請號: 201610080423.8
• 申請日: 2016-02-04
• 公開（公告）號: CN105741250B
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發明（設計）人: 萬賢福;陳俊琰;汪軍;李立輕;陳霞
• 申請（專利權）人: 東華大學
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 高迷想

1.基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法，在驗布時，相機線掃描獲得織物圖像并轉化為灰度圖像，其特征是具體步驟如下：

(1)線掃描獲得織物圖像，每條掃描線獲取圖像中的一行，行與織物的緯向相對應，列與走布方向即織物的經向相對應；在線掃描的同時，定時測量走布速度，其頻率為f₂，將測得的速度依次排成序列v(t)，其中t為測速的采樣時間序號t＝0,1,2,…,T；

(2)若當前走布速度v大于或小于設定的走布速度v_set時，進行矯正：

a)計算掃描圖像中相鄰兩行在織物平面上的間距l_k→k+1：

l_k→k+1＝0.5×(v(t_nb)+v(t_nb+1))/f₁；

其中，下標中k和k+1為掃描圖像中相鄰兩行的行號；t_nb和t_nb+1為與相機采集獲得行k和k+1的時刻相臨近的測速采樣的時間序號，t_nb∈t，t_nb+1∈t；f₁為線掃描的掃描頻率；

b)計算掃描圖像中各行在織物平面內的采樣位置；依照行號的次序，按上步計算所得各相鄰行在織物平面上的間距l_i，依次計算出掃描圖像中各行在織物平面內的采樣位置x_i；具體為：以織物經向為橫坐標，以織物緯向為縱坐標，第一行所在的位置為橫坐標的原點，則有：

其中，i為掃描圖像中的行號；

c)計算矯正圖像在織物平面內的行采樣線的間距d：

d＝v_set/f₁；

d)按所述間距在織物平面內劃分矯正圖像的行采樣線，計算矯正圖像中各行在織物平面內的采樣位置x'_m：

x'_m＝md；

其中，m為矯正圖像中的行號；

e)在織物平面內，找出與矯正圖像的采樣點P'(m,n)在經向上最鄰近的三個掃描圖像的采樣點P(il,j)，P(il+1,j)和P(il+2,j)；P'(m,n)表示矯正圖像中像素點(m,n)在織物平面上的采樣點，P(i,j)表示掃描圖像中像素點(i,j)在織物平面上的采樣點，il為經向上最鄰近的三個采樣點的最小行號值；P'(m,n)，P(il,j)，P(il+1,j)和P(il+2,j)在同一條列采樣線上，此處j＝n；在織物平面內以P'(m,n)，P(il,j)，P(il+1,j)和P(il+2,j)所在的線段的顏色灰度為連續分布，此線段的灰度分布g為其橫坐標值x的函數，記為g(x)；

f)由以上步驟，已知P(il,j)，P(il+1,j)和P(il+2,j)的橫坐標值和灰度值，以及P'(m,n)的橫坐標值，通過二次插值法獲得所述矯正圖像的采樣點P'(m,n)的灰度值g(x'_m)；

g)重復執行步驟e)和f)，直至獲得所有矯正圖像的采樣點的灰度值；

h)將所得矯正圖像上各點的灰度值，緯向為行，經向為列，依次排列，形成矩陣，即得矯正圖像。

2.根據權利要求1所述的基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法，其特征在于，所述線掃描獲得織物圖像按幀處理。

3.根據權利要求1所述的基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法，其特征在于，所述線掃描采用相機線掃描。

4.根據權利要求1所述的基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法，其特征在于，所述走布速度v為0.01～1000米/分鐘。

5.根據權利要求1所述的基于二次插值法的自動驗布機走布速度不勻的圖像矯正方法，其特征在于，f₁/f₂＝1～10000。