[發(fā)明專利]一種金屬管用超聲波測厚探頭及金屬管用超聲波測厚方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610067060.4
• 申請日: 2016-01-30
• 公開（公告）號: CN105737771B
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 覃波;彭欣
• 申請（專利權(quán)）人: 湖南工程學(xué)院
• 主分類號: G01B17/02
• 分類號: G01B17/02
• 代理公司: 上海精晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31253
• 代理人: 熊嫻;馮子玲

1.一種金屬管用超聲波測厚探頭，其特征在于：探頭內(nèi)設(shè)置有至少兩個向心排布的晶片，所述探頭還包括與探頭殼體內(nèi)表面契合的楔塊，當(dāng)所述探頭測量時，所述楔塊位于探頭殼體和被測金屬管外壁之間，楔塊與探頭殼體耦合的面為連接面，與被測金屬管外壁耦合的面為測量面；探頭配置多個楔塊，多個楔塊的連接面相同而測量面的半徑尺寸不同。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：晶片呈單行排布。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：晶片為壓電晶片。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：晶片為矩形晶片。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：晶片設(shè)置在一探頭殼體內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：探頭殼體設(shè)有一呈圓柱面狀的發(fā)射面，多個向心設(shè)置的晶片沿該發(fā)射面排布。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：多個晶片沿發(fā)射面呈單行或者多行排布。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：發(fā)射面的弧度大于0度但不大于180度。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：連接面與探頭殼體的發(fā)射面貼合，測量面與被測金屬管部分外壁貼合。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：各晶片發(fā)射的超聲波依次通過發(fā)射面、連接面和測量面。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：測量面為一圓柱面。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：連接面與測量面共一對稱軸設(shè)置。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：連接面與測量面同軸設(shè)置且測量面半徑小于連接面半徑。

14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：探頭殼體與楔塊以活動連接方式連接。

15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波測厚探頭，其特征在于：楔塊為有機玻璃。

16.一種金屬管用超聲波測厚方法，其特征在于：采用包括權(quán)利要求1～15任一所述的探頭的測厚儀進行金屬管壁厚度檢測。

17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：

步驟a:將所述測厚儀的探頭與待測金屬管外壁貼合進行腐蝕檢測；

步驟b:經(jīng)測厚儀測得待測金屬管厚度值。

18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于：步驟a中探頭所用楔塊與待測金屬管完全貼合。

19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于：步驟a還包括打磨待測金屬管外壁并在待測金屬管外壁涂敷耦合劑。